【継続供給】揮発性メモリ製品を振り返る

揮発性メモリの歴史を振り返る/製造中止品(EOL品)の再生産

不揮発性メモリに続いて、今回は揮発性メモリの歴史をご紹介いたします。 揮発性メモリの主な種類は、SRAM(Static Random Access Memory)とDRAM(Dynamic Random Access Memory)の2つです。 ロチェスターエレクトロニクスは、現行品である揮発性メモリ製品と製造中止された揮発性メモリ製品の正規販売代理店および製造メーカーです。当社の揮発性メモリのポートフォリオは、標準的な低密度な製品から高性能な同期DDRおよび高密度な製品まで、複数の世代のSRAMとDRAMをカバーしています。 ★ご使用中の半導体製品の在庫入手でお困りではありませんか？ ロチェスターでは、アナログ・デバイセズ、インフィニオン、オンセミ、ルネサス エレクトロニクス、NXPなどの 主要メーカーから認定を受け、メーカー正規品在庫を販売しています。 ※オリジナル半導体メーカー認定のソリューションについて、ぜひ「PDFダウンロード」よりご覧ください。 また下記リンクからも詳細ご確認をいただけます。

• その他半導体

気密性・密封性を検査するための漏れ試験機器を開発・製造・販売している株式会社フクダが、 気密検査の方法や理論を分かり易く解説した技術資料である、 『テクニカルマニュアル（Technical Manual）』 をＰＤＦデータとしてご提供させていただいております。 ぜひこの機会にダウンロードしてご覧ください！

●包装容器エアリークテスト装置とは？ 医薬品などの包装容器の剥がれや破れ、ピンホールの有無を特定し、包装容器の完全性試験（CCIT）を行う漏れ試験装置です。軟包装、ボトル容器、ガラス容器など、医薬包装をはじめとして幅広い種類の包装容器に適用できます。 測定方式は、＜密封チャンバー法（圧力変化漏れ試験法1 ）＞を採用しています。サンプルをチャンバに入れ、加圧または減圧し、チャンバ内の圧力変化を測定することにより、定量的な検査を行います。 製造オフライン、製造インライン、CMC 研究室、品質管理試験室、安定性試験など、さまざまな場面でご利用いただけます。 ※ 検査対象容器のことをワーク、あるいはサンプルと呼びます。ここでは、特定の試料をサンプルと呼称して、用語を使い分けています。

包装工程のピンホール検査を完全自動化し、一定の品質基準をもとに包装不良を排除します。判定結果や稼働状況は、モニタ画面により管理することができます。 ・ピンホール検査工程の品質基準を定量的に管理 ・製品の有効期間の品質を確保 ・製造工程の評価基準を確立、定量的な品質保証を実現 ・スリムな省スペースで既存の生産ラインに接続可能 ・品種切替のための段取り替えは、チャンバの交換により短時間で対応可能 ・完全国内生産だから、メンテナンスやトラブル対応も迅速に対応します ・対象ワーク例：ピロー包装、包装米飯(パックごはん)、等 ※本製品の医薬品での対応はご相談下さい

株式会社フクダは漏れ検出を追求して60年、漏れ検査（リークテスト）の未来型を追求します。 【 各種漏れ試験に対応：エアリークテスト / ガスリークテスト（水素ガス ・ ヘリウムガス） 】 気密性・密封性を検査するための漏れ試験機器を開発・製造・販売しています 検査対象ごとに適切なテスター・装置をご提案いたします 【 対象業界と検査対象例 】 ・自動車業界：エンジン、FC部品、バルブ・配管、各種部品 ・電子部品業界：スマートフォン、キーレススイッチ、各種小型センサ ・医薬品 / 食品 / 化粧品業界：ボトル容器、シリンジ、バイアル、点眼剤容器、ピロー包装、PTP包装 業界別に最適なリークテスターをご提案いたします 【 ISO認証 】JIS Q 9001:2015（ISO 9001:2015）

孔径・孔長を規定した擬似欠陥（参照試験片）です。 圧力変化漏れ試験法、液没試験法で利用可能です。 陽性対照（不良品サンプル）を用いた規格設定や妥当性評価にご利用いただけます。 ●JP18に準拠した包装完全性の評価 ●「最大許容漏れ限度」の設定 ●水蒸気、酸素、微生物の侵入試験 ●定性的試験法からの定量化(現状の漏れ規格を孔径化)