シリコンパワー社産業用NANDフラッシュ製品のデータ保持性
シリコンパワージャパン株式会社
NANDフラッシュ技術は物理的な劣化の影響を受け、最終的にデバイスの故障につながる可能性があります。NANDフラッシュ製品の性能を規定するエンドオブライフパラメーターは2つあり、それぞれ書き込み/消去耐久性とデータ保持性です。本アプリケーションノートでは、NANDフラッシュ技術の信頼性試験方法についての視点を提供し、データ保持の観点から重要な要因の影響について説明します。
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リンク:https://www.ipros.jp/news/detail/128591/attachFile/
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