第39回ネプコンジャパン

◀出展予定品▶
装置組込み用非接触面粗さ計 S mart sensor(Sensofar Metrology社)
AR導光板グレーティング解析システム WG-GAT(OptoFidelity社)
R&D向け AR導光板品質の自動画像検査システム WG-IQ(OptoFidelity社)
基板用 高速レーザー欠陥スキャナー ATシリーズ(Lumina Instruments社)

開催日時 | 2025年01月22日(水) ~ 2025年01月24日(金) |
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会場 | 東京ビッグサイト 東展示棟 小間番号:E14-36 |
参加費 | 無料 事前登録制 |
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