“ClassNK-PEERLESS×EYECAD 現場DXを体験する3D活用セミナー” を開催します。

必要な精度で短時間に簡単操作で！機器や、構造物の3次元モデルを作成できる

『ClassNK-PEERLESS』は、3次元レーザースキャナで取得した測定点群から 必要な精度で、短時間に3次元モデルを作成します。 規格化された部品、各分野に特化したルールや知識を集約したデータ ベースを利用し、専門知識がなくても、かんたん操作でモデリング可能。 点群では表現できない箇所を3次元モデルで表現することで、造船・工場・ プラントといった大規模構造物の改造およびメンテナンス作業や、設備の レイアウト検討作業の効率化を支援します。 【特長】 ■現状の3次元モデルを作成 ■新設配管のルートを検討 ■機器の3次元モデルを作成 ■構造物の3次元モデルを作成 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• モデラー

自社ブランド「ViEST」として展開している微粒子可視化技術は、マイクロ・ナノサイズの微小粒子の浮遊状態や付着状態をリアルタイムに映像化できる非常に高い水準の検出感度を有しています。 可視化システムの販売や、評価サービス（生産工程・製造装置内外・工場環境等における微粒子や気流の調査、クリーン化商品の性能評価、歩留り改善策の提案等）の受託業務を国内外で展開しています。 製造現場では、目に見えない微細異物や発塵、静電気による粒子付着、気流の乱れなどが品質不良や歩留まり低下の原因となっています。 当社では、これらのコンタミネーション要因を可視化技術によって明確にし、発生源の特定から改善策の検討・効果確認まで一貫してサポートいたします。 このようなお悩みはありませんか？ ・異物混入の原因が特定できない ・クリーンルーム内の気流や清浄度を確認したい ・製造装置や搬送設備からの発塵を把握したい ・フィルムや基板への粒子付着を低減したい ・歩留まり低下の要因となるコンタミを改善したい

[講　師] KPMGコンサルティング株式会社 執行役員　パートナー 池田　和繁（いけだ　かずしげ）　氏 KPMGコンサルティング株式会社 Technology Consulting　シニアコンサルタント 太田　翔（おおた　かける）　氏 [重点講義内容] 近年、AIは文章生成や画像認識などのデジタル空間での情報処理にとどまらず、センサ、ロボット、車両、産業機器等と結び付き、現実世界で「知覚・判断・行動」するフィジカルAIへと進化しています。フィジカルAIは、労働力不足、技能継承、危険作業の代替、生産性向上といった産業課題への対応に向け、製造業をはじめとする幅広い領域で重要性を増しています。また、フィジカルAIを支える基盤モデル、半導体、センサ、アクチュエータ、ロボティクス関連技術等は、サプライチェーンリスクへの対応や重要技術の確保・管理の観点から、経済安全保障上も重要性を増しています。 本講演では、フィジカルAIの基本概念や主要技術を整理するとともに、製造現場・産業領域での活用可能性、導入・運用に向けた実務上の論点、企業が今後取るべきアクションについて解説します。

[講　師] 株式会社bridge 代表取締役 プロジェクトデザイナー 大長 伸行 氏 [重点講義内容] 「新規事業が、なぜか"途中で"止まる」その原因は、アイデアや人材の不足ではないかもしれません。 300件を超える新規事業・事業開発に伴走してわかったのは、成否を分けるのは「組織のつくり」--意思決定、対話、前提の共有のしかただということでした。 本セミナーでは、書籍『自走する新規事業のつくりかた』（翔泳社）をもとに、新規事業を止めてしまう「わかりあえない問題」を構造として読み解きます。ゴールは、「自社のどこで止まっていて、何に手を打つべきか」を、組織のなかで共通言語として持てるようになること。そのための「自走地図」の使い方を、実務に引きつけてお伝えします。

このたび、NIR装置をご利用のお客様を対象にNIR 基礎ワークショップを開催いたします。 これからNIR装置の活用を始める方はもちろん、現在ご利用中の装置や検量モデルをより効果的に活用したい方、 モデル評価や運用方法について理解を深めたい方にもおすすめの内容となっております。 ■場所　　：青海フロンティアビル　会議室2+3 ■開催日時：2026年8月25日(火) 10:00～16:30（昼休憩あり） ※開場15分前 ■対象者　：DS/FoodScan2/InfratecNovaをご使用のユーザー様 / 今後NIR装置購入を検討されているお客様 等 ■定員　　：10名（事前予約制）※先着順（定員に達し次第申込みフォームが閉じられます） ■参加費　：100,000円（税別/後日請求書発行） 詳細は、PDFをご確認ください。

本セミナーでは、GC/MS分析における感度低下や分離性能の課題に着目し、解決に役立つ最新技術と実践的なノウハウをご紹介します。今回はLECOジャパン様にもご登壇いただき、高分解能・高分離分析のメリットと活用方法を実例とともにご紹介いただきます。また、Restekからは微量分析における感度向上に有効なカラム技術をご紹介します。 Restek：微量分析における感度向上に有効なRMX GCカラムの不活性性能と、低濃度領域での吸着損失を抑えるカラム技術について、実測データを交えて解説します。 LECO様：高感度GC-TOFMSとRMXカラムを用いた微量成分の網羅的検出や、環境・香気成分・材料分析などの最新アプリケーション事例をご紹介いただきます。 ターゲット分析・ノンターゲット分析を問わず、GC/MSによる多成分分析に携わる方や、これから取り組まれる方におすすめの内容です。GC/MS初心者にもわかりやすく解説しますので、是非ご参加ください。 https://attendee.gotowebinar.com/register/4154396289102082141?source=ipros