SEMICON Japan 2026
SEMICON Japan 2026では、半導体の研究開発から製造までを支える計測・検査装置をご紹介します。
■会期:2026年12月9日(水)~11日(金)
■会場:東京ビッグサイト
■小間番号:E2708
■ご来場:事前来場登録制
■出展予定品
・ワイヤーグリッド偏光子/メタレンズ(Moxtek)
・非接触3D面粗さ計測装置 S mart(SENSOFAR)
・レーザー欠陥スキャナー PrimaScan(Onto Innovation)
・300mm対応AFM-IR Vista300(Molecular Vista)
・AFM Nanoview 1000(FSM Precision)
・伝導性AFM Nano-Observer(CSInstruments)
・光実装用3Dプリンタ Quantum X align(Nanoscribe)
・ナノ位置決めステージ/変位センサ(attocube)
・超解像光学顕微鏡 NANORO M(LIG Nanowise)
・ウェハ歪み測定センサ※開発中(Fringe Metrology)
ぜひお立ち寄りください。

| 開催日時 | 2026年12月09日(水) ~ 2026年12月11日(金) |
|---|---|
| 会場 | 東京ビッグサイト |
| 参加費 | 無料 |
このニュースへのお問い合わせ
Webからお問い合わせこのニュースの詳細・お申し込み
詳細・お申し込み


