JTAGテスト入門セミナー - 第238回 2016年12月 7日 水曜日

最近、組込み製品の基板が複雑化、高度化しており、改めて注目されている JTAGバウンダリスキャン・テストを分かり易く解説します!
【セミナー内容】
1. JTAGバウンダリスキャンテスト概要
JTAGバウンダリスキャンアーキテクチャ紹介と活用される分野
2. JTAGバウンダリスキャンテストが登場した背景
LSIのパッケージの高密度実装にともなう変遷
BGAの実装不良と小型化・高密度化による課題
部品内蔵基板やTSV技術による3D LSI/2.5 LSIの概要
3. 実装基板の検査手法と特徴
各テスト手法が検出可能な故障タイプ
インサーキットテスト / ファンクションテスト / X線検査 / 自動外観検査(AOI)との補完
4. JTAG ProVisionデモンストレーション
基板の実装検査を行う手順を実機のデモを交えて紹介します。
5. JTAGテストの国内導入企業と課題解決事例
開発現場での活用と開発期間短縮
製造現場での活用と検査コスト削減
サービス現場での活用と修理コスト削減

開催日時 | 2016年12月07日(水) 01:30 ~ 17:00 |
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会場 | 会場: アンドールシステムサポート株式会社 東京本社 交通: 京浜急行・新馬場駅南口より徒歩 6分(各駅停車・横浜方面改札) 京浜急行・青物横丁駅より徒歩 10分(急行・特急・各駅停車) りんかい線・品川シーサイド駅より徒歩10分(各駅停車) 住所: 〒140-0004 東京都品川区南品川2-15-8 電話番号: 03(3450)7201 |
参加費 | 無料 |
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