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  3. 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
  4. 技術情報「めっき試料の脱ガス評価(C0464)」他、4件を公開
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2017/04/06

技術情報「めっき試料の脱ガス評価(C0464)」他、4件を公開

一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
MSTホームページにて、下記分析事例5件を公開しました。 ・めっき試料の脱ガス評価(C0464) ・代表的な材料・目的別のTDS解析例(B0232) ・LC/MS/MSによるペプチドの配列解析(C0466) ・Siウエハ表面の金属汚染評価(B0233) ・SiN膜中の金属汚染評価(C0465) 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/
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【分析事例】SiN膜中の金属汚染分析

ICP-MSによる高感度分析

Siウエハ上のSiN膜(Si3N4)を溶解した溶液中には、着目している不純物金属元素以外に膜由来のSiマトリックスが含まれています。そのため、溶解した溶液そのものでは精度よく高感度分析ができません。 そこで、Siウエハ上のSiN膜を溶解後、別途処理を施すことでSiマトリックスの影響なくSiN膜中不純物金属元素の分析を可能としました。市販品のSiN膜付きSiウエハを用いてICP-MSによる高感度分析を実施した事例を挙げます。

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Siウエハ表面の金属汚染評価

ICP-MS:誘導結合プラズマ質量分析法

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【分析事例】LC/MS/MSによるペプチドの配列解析

ペプチドのアミノ酸配列をLC/MS/MS分析によって解析します

ペプチドをLC/MS/MSで測定すると特徴的なフラグメントイオンが得られ、ペプチドを構成するアミノ酸の配列を解析することができます。また、ペプチドをLCによって分離して分析するため、複数のペプチドを含む試料や不純物ペプチドを含む試料であっても配列の解析が可能です。 ここでは低分子ペプチドをLC/MS/MSで分析し、アミノ酸配列の推定を行った事例を紹介します。

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【分析事例】めっき試料の脱ガス評価

Ni/Auめっきの昇温脱離ガス分析(TDS)

めっき膜にガスが含有されている場合、はがれや膨れ、膜中の気泡など不良の原因となる場合があります。めっき膜に含有されているガスについて調査するには、高真空中で試料を昇温させて脱離したガスを測定できるTDSが有効です。 SUS部材上にNi/Auめっきを施した試料について、TDS分析を行った結果を示します。めっき膜からH2、 HCN、 H2S、 HClの脱離が確認できました。また、定量値の算出を行いました。

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代表的な材料・目的別のTDS解析例

TDS:昇温脱離ガス分析法

TDSは高真空中(1E-7 Pa)で試料を昇温させ、脱離したガスを検出する手法です。高真空中で試料を等速昇温するため微量な脱ガス(単原子層レベル)についても温度依存性を確認することができます。また一部の成分については脱離したガスの分子数も算出可能です。 代表的な材料別にTDSを適用した例をご紹介します。

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AAEON NVIDIA Jetson Orin NX搭載 産業用AIエッジPC Jetpack6.2sp搭載【BOXER-8651AI-PLUS】

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特徴: ●NVIDIA Jetson Orin NX搭載 ●JetPack 6.2 Super mode搭載 ●8GB/16GB LPDDR5オンボードメモリ ●USB 3.2 Gen 2 x 4 ●RS232 x 1 ●10ピンヘッダーDIO ●拡張:M.2 2230 E-Key x 1, M.2 3052 B-Key x 1

2026年03月05日

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AAEON NVIDIA Jetson T5000搭載 AIエッジPC Jetpack7.0搭載【BOXER-8741AI】

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特徴: ●NVIDIA Jetson T5000搭載 ●128GB LPDDR5Xオンボードメモリ ●25GbE LAN x 4 for Sensor Integration ●5GbE LAN x 3、RS-485 x 2 for LiDAR ●DIO/CANBus

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2026/4/8~4/10 Japan IT Week [IoT・エッジコンピューティングEXPO 春] 出展のお知らせ

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【鋳物割れ】金属製品の割れを熱を加えずに補修いたします。

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