技術情報「XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価(C0472)」1件を公開

MSTホームページにて、下記分析事例1件を公開しました。
・XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価(C0472)
詳細はMSTホームページをご覧ください。
http://www.mst.or.jp/

このニュースへのお問い合わせ
Webからお問い合わせこのニュースの詳細・お申し込み
詳細・お申し込み
関連リンク
受託による分析サービスを承ります。お気軽にご相談ください。