技術情報「XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価(C0472)」1件を公開
![一般財団法人材料科学技術振興財団 MST](https://image.mono.ipros.com/public/company/logo/099/387108/IPROS10149123315055270191.png?w=170&h=170)
MSTホームページにて、下記分析事例1件を公開しました。
・XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価(C0472)
詳細はMSTホームページをご覧ください。
http://www.mst.or.jp/
![](https://image.mono.ipros.com/public/news/image/1/862/41056/IPROS5316038380905337130.png?w=280&h=280)
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