FXE 160 nano(ナノ)

当社のFXE X線源は高い光学倍率が搭載され、X線の発生源と検査対象物との距離が短いため、最高の解像度を提供します。
品質管理向けの非破壊検査、オフライン検査および数ミリメートルから0.6μmの欠陥の測定に最適です。
実績のあるCometの技術により、160 kVでの安定した動作が保証され、複雑な多層部品の検査も可能になります。
ぜひ、資料ダウンロードやお問い合わせをお待ちしております。

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