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[開発事例] HSDIOとLabVIEWを使用したメモリ評価装置

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最終更新日:2021年01月08日

株式会社ペリテック 神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所
株式会社ペリテック 神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所
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安価なHSDIOとLabVIEW を使用したメモリ評価装置の開発

試験時間が大幅に短くなったことで、短時間で複数の試験パターンを試せるようになり、エンドユーザー様にはとても満足していただくことができました。 リテンション試験ではファイル保存しながら収録を行うという処理にしたことで、長い時間のパターン波形でも試験を行うことができました。 本システムの完成により、他社のロジックアナライザでかかっていた試験時間3 日が30 分となりました。 今回の開発によりNI 製品(HSDIO)が、メモリ評価に対するシステムの構築にたいへん有効であることが確認できました。 開発した弊社の評価装置はエンドユーザー様で活用されています。 要求仕様に合せて、必要なNI 社製品のモジュールを選定して組み合わせることで、品質の高いシステムを短期間で構築することが可能となり、性能/納期/コスト削減の面でユーザー様へ貢献することが出来ました。自動化/短納期/低コスト/高品質については、IC の評価装置としては共通の要望でもあり、NI 社製品とLabVIEWを活用したシステムは、他の製品群についても、今後展開されて行くことが充分期待出来ます。

    メモリ電子負荷装置分析機器・装置
LabVIEWを使用したメモリ評価装置.png

[開発事例] HSDIOとLabVIEWを使用したメモリ評価装置

LabVIEWを使用したメモリ評価装置.png
LabVIEWを使用したメモリ評価装置.png
  • 関連リンク - http://www.peritec.co.jp/work/case15.html

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基本情報

1.試験時間の短縮 NI 製のシステム【HSDIO(PXIe-6545)】を基本ハードウェアとして採用し、パターン波形作成にはDigital Waveform Editor を使用することで試験時間の問題を解決しました。 2.記憶保持時間(リテンション時間)の測定 リテンション試験は【HSDIO(PXIe-6545)】とNI 製Script Editor を使用することで、任意のリテンション時間を複数設定できるようになり、測定が可能になりました。 HSDIO の収録データはデータ量が多く、メモリ上に保持するとオーバーフローエラーが発生していまいましたが、バイナリィファイルに保存しながら収録することでエラーを起こさずに収録することができました。収録完了後に、ファイルから測定データを読み込みながら、期待値との評価を行いました。 3.操作シーケンス 本システムはTESTSTAND を使用し、試験シーケンスの製作効率UP とパラメータ設定の簡易性を上げ、複数の担当者が使用できるようにしました。

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用途/実績例

メモリ評価

企業情報

株式会社ペリテック

株式会社ペリテック 神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所

試験・分析・測定

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ペリテックはペリフェラル(周辺機器)とテクノロジーを社名の由来とし、T&M(計測システム、試験器)を独自に技術研究開発して、皆様にご提案しております。 皆様のペリフェラル(周辺機器)としてお役に立てれば幸いでございます。 ペリテックでは、計測・テストに特化したグラフィカルプログラム言語である『LabVIEW』を活用してT&M(計測システム・試験機)システムの技術研究開発・提案を行っています。 創業以来、多種多様な開発を行い、その数は4,000件以上にも上ります。RFIDテスター、ECUテスター、ICテスターなど、高性能・低価格・コンパクトなT&Mシステムを提供しています。 日本で唯一LabVIEWの開発元であるナショナルインスツルメンツ社(NI社)とパートナー企業の最上位にランクするプラチナアライアンスパートナーに認定されおり、NI社と強い信頼関係にあります。 これにより、お客様にベストな開発コンサルティングを行うことが可能です。 今後ともペリテックでは、多くのお客様のご発展を支援できるよう最新のLabVIEW技術を活かした包括的かつ高品質なソリューションをご提供し続けて行きます。

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