簡単操作、精密計測、自動計測可能。操作性に優れたＧＵＩ環境
検査装置「cp-30（顕微鏡型画像計測システム）」は、顕微鏡に取り付けられたＣＣＤカメラによって取りこまれた画像を解析して、線幅を自動計測するシステムです。画面内に設定した水平または、垂直ウインドウの輝度波形から、線幅を精密測定します。専用インターフェースでＸＹステージと連動しており、指定位置へ自動的に移動して幅計測を行うことができます。Ｚ軸のオートフォーカス機能により、厚みの違うワークも柔軟に対応できます。また、ウェハーのローダー・アンローダーも搭載可能です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
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基本情報
【特長】 ○ウェハーのローダー・アンローダーも搭載可能 →ソフト上でウェハーマップのフォームを表示して、ポイント毎に自動計測可能 ○位置ずれ補正マークや、計測ウインドウを設定し、白黒の輝度変化エッジ間の長さを計測することができる ○計測を行いたい画像毎に計測パターンを設定できる ○長さを計測したい部分に平行２直線をマウスで合わせるだけで計測することも可能 ○操作性に優れたＧＵＩ環境 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
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企業情報
弊社は1986年の会社創設以来、長らく日本の最先端の技術を支える半導体付帯事業を展開してまいりました。ハード面 ではクリーンルームをはじめとする、工事製造環境の整備。また、人的要素では半導体技術者の育成ならびにお客様のニーズに即応できるサービス体制の確立に主眼をおいてまいりました。そして昨年は、SEMICON Japanに初出展を果たし多くの 業界関係者と直接触れ合うことで、今何を必要とされているのか、いかなるサービスを創出すべきなのかを改めて学ぶことができました。また、同時に社内の志気も高まっきており積極的な営業活動を実施しております。日本経済の景気もようやく上昇志向となってきたと言われております。しかし、半導体業界だけを見ても海外メーカーの進出、技術力、サービスの向上は著しいものとなっておりますので国際競争力を高めることを念頭に営業展開をしていきたいと考えております。国内はもとより、グローバル化時代に対応して北米とアジアを結ぶ拠点として我が日本そして、空港アクセスに優れている当社の担う役割はさらに高まっていきます。