コストパフォーマンスに優れたSoC/アナログテストシステム。
3650-EXは、ファブレス、IDM、テストハウスの方々に対して費 用効果の高いソリューションを提供するために、高いスループットと多数マルチサイトテスト能力に対して特別設計されたテスターです。 高機能、高精度、パワフルなソフトウェアツール、及び高信頼性を持つ3650-EXは、コンシューマデバイス、高性能マイクロコントローラ、SoCデバイ スのテストに対して理想的なテスターです。
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基本情報
互換性の高い10 slotsテスト・ヘッド 最大周波数50/100 MHz、データレート 100/200 Mbps 同時測定個数：最大512サイト デジタルI/Oピン：最大1024ピン ベクタメモリ：32/64 MW PMU (DC測定機能)：最大32ch ピン毎に機能を保有 (timing/PPMU/frequency measurement) スキャンメモリ 最大 4G depth /32 scan chains ALPG (メモリ測定機能) オプション タイミング精度：±300ps 高電圧ピン：最大64ch 多チャンネル電源：DPS 96ch 32ch HDADDA (ADC/DAC測定機能)オプション 8~32ch VI45(±45V) アナログオプション 2~8ch PVI100(±100V) アナログオプション MRX オプション(for 3rd party PXI/PXIe applications) 他社テスタからのテストプログラム/テストパターンコンバータ可能 STDF データ出力サポート テストヘッド内の空冷 コンパクトテストヘッドと小型フットプリント
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用途／実績例
ファブレス、IDM、テストハウスにおける半導体テストに最適。
ラインアップ（1）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| 3650-EX | SoC/アナログテストシステム |
この製品に関するニュース（2）
企業情報
1984年に台湾で創立されたChroma ATE Inc.は、高精度試験および電子計測器、自動検査システム、インテリジェントマニュファクチャリングシステムなどのテスト＆オートメーション・ターンキーソリューション領域をリードするグローバルサプライヤーとして、「Chroma」ブランドを全世界に展開しています。 クロマはICT、クリーンテクノロジー、スマートファクトリー、電気自動車（EV）、LED・レーザーダイオード、太陽光発電、バッテリー、半導体・IC、光通信、フラットパネルディスプレイ点灯器、モニタ・テレビ・ディスプレイ信号発生器、パワーエレクトロニクス、受動部品、電気安全試験、熱電計測、自動光学検査およびインテリジェントマニュファクチャリングシステムにおいて優れた試験器、検査システムを取り揃えています。 クロマジャパンはChroma ATE Inc.の日本法人として製品の販売と共にアフターサービスをローカル化し充実させるために設立されました。世界品質の製品を緻密なサポートを必要とする日本のお客様のために日々尽力しています。
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