外部照射光による正反射像なのでロスのない画像「PS-100-S7Z45D」
外部照射光によって正反射像を捉えます。このため、ワークの色は無くなりますが、キズ、打痕、クラックおよび汚れのように反射を阻害するものは全て、陰影として像を観察することができます。 微小角を持つ反射像が得られるので、表面の隆起状態が確認できます。 下側に掲載の動画像は平面観察用ハレーションマイクロスコープ「PS-100-S7Z45D」(中倍率)により、金属塗装面をハレーション照明と落射照明で撮像した比較画像です。 落射照明ではキズは捉えずらい画像ですが、ハレーション照明では、色は捉えておりませんがキズははっきり認識できる画像となっています。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
ハレーションマイクロスコープ「PS-100-S7Z45D」普及版(中倍率)軽曲面帯可能な平面ハレーション観察用(15"モニターで50倍~300倍,4ミクロンまで)です。 ズーム倍率0.75~4.5倍で観察できるテレセントリックズームレンズとハレーション高輝度照明で高精彩画像を実現し、「見えないものを観る」平面観察用マイクロスコープとして最高を維持しています。 ズームでターゲットを絞り込んで拡大観察にて容易に見つけ出すことが出来る汎用性抜群のマイクロスコープです。 【ハレーションマイクロスコープの特長】 ○外部照射光による正反射なのでロスのない画像が取得可能 ○微少角を持つ反射像が得られるので、表面の隆起状態が確認可能 ○軽曲面帯(X方向凸φ80以上)のハレーション像の観察が可能である ○落射照明(簡易)マイクロスコープとして可能 ○簡易暗視野照明として利用可能 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
価格情報
お問い合わせください。
納期
用途/実績例
【用途】 ○EL・LCDのITOの検査、液晶等封入状態でも観察可、スペーサ分布検査 ○ICチップのクラック・キズ・汚れ4ミクロンまで検出可能 ○鏡面塗装・異物・キズ・ピンホール等4ミクロンまで検出可能 ○硝子・プラスチック・金属等の異物・傷・汚れ・ウォーターマークの検査 ○薄膜・蒸着・コーティング等のピンホール・剥離・傷の検査 ○実装後のBGA、セラミックス、ゴム系等の検査 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
カタログ(1)
カタログをまとめてダウンロード企業情報
超精密加工技術が進んで、極限までの精密さをもつ電子部品、又、 微小な構造を探求するバイオの学術分野、等、 広範囲で高度の 観察機能をもつ機器が求められております。 光学照明を利用した ハレーションマイクロスコープはあらゆる業界の微細構造を探求する のに最適な機器です。 シーズインターナショナルはハレーションマイクロスコープに関連す る開発、設計技術と一体化されており、水平展開する技術的ご要 望に即、対応する体制にあり、皆様の検査、観察、研究業務のご 期待に応えてまいります。