半導体テスト アーキテクツ
Semiconductor Parametric Test, Reliability Test, Multi-Site/Die Test
この製品へのお問い合わせ
基本情報
STAr's Virgo series of high performance parametric probe cards enable low-level leakage current and capacitance testing with consistent results and high accuracies under extreme thermal conditions on small pads used in nanometer technologies.
価格帯
納期
用途／実績例
Semiconductor Parametric Test, Reliability Test, Multi-Site/Die Test
企業情報
スターテクノロジーズ株式会社はアジレント・テクノロジー株式会社のチャンネル／ソリューション・パートナーであり、半導体試験システム、半導体業界向けのソフトウエアやプロフェッショナルなサービスを提供している。 スターテクノロジーズ社は2000年に設立され、台湾の新竹市に本社を置き、米国、日本、韓国、中国、インド、シンガポールの子会社をもつ。
