トランジスタ・FETの通電試験を目的とした、長期間監視型ランニング試験装置（温度ストレス対応可）
モデル6300Aは、FET・トランジスタの電気的特性をバーンインテスト状況下で長時間収録する半導体デバイス・ランニング試験装置です。検出抵抗は、FET・トランジスタの特性に応じて交換可能です。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。
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基本情報
・1ユニット：10ch ・最大ゲート・バイアス：15V/100mA ・最大ドレン・バイアス：100V/100mA ・最大試験時間：約8,000H ・オプション：高温器 ・オプション：ユニット増設 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。
価格情報
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価格帯
100万円 ~ 500万円
納期
※オプションにより変わります
用途／実績例
・トランジスタ ・FET
企業情報
弊社は1977年に設立以来、多くの有力企業の半導体、電子部品の開発に貢献してきました。高速・高圧技術を始めとした静電気に関するノウハウをベースに、アナログ信号を高精度に計測・解析する各種製品およびシステムの製造、販売を行なっています。
