従来のX線解析法に比べ、より簡便な小型装置
簡易垂直型ゴニオフォトメータで、 受光器搭載回転アームを変角し透過散乱光強度を測定する装置です。 光散乱法解析による高分子構造の解明に役立ちます。
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基本情報
【特徴】 ◯従来のX線解析法に比べ、より簡便な小型装置 ◯光源にはレーザーを使用 ◯操作手順はすべてコンピュータ制御 ◯小角から広角の範囲にわたり、高精度データが容易に且つ迅速に得られる ◯計測ソフト及び解析ソフトが添付 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
価格情報
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