最大で8個のソケットを取り付け、各ソケットへの同時印加が可能。
本装置は独自のメカニカル機構により、最大1024ピンのデバイスまで試験が可能になっています。 占有スペースも小さく、従来の少ピン対応の装置ほどしかありません。 試験機能は最新規格に合った静電気試験、ラッチアップ試験に対応し、フレンドリーな操作性で精度の高い試験が実現できます。 【特徴】 ○複数同時印加が可能 ○多様な規格波形への対応 ○ファンクション破壊判定への対応 ○既存資産の有効利用 ○ラッチアップ試験への対応 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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基本情報
【特徴】 ○最大で8個のソケットを取り付け、各ソケットへの同時印加が可能 ○ソフトも複数のデバイスに対応 ○従来のESD試験器(HED-S5000 series, F5000 series) に装備されたソケット板の使用が可能 ○JEITA規格、JEDEC規格、ESDA規格など国内、海外の規格に対応 ○静電パルス印加法、電源過電圧印加法、 パルス電流注入印加法、過電圧印加法に対応 ○ESDパルス印加後にファンクション判定機能を付加出来る(オプション) ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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弊社は、半導体の品質管理に不可欠な評価測定や解析のための検査装置を開発・製造しているメーカーです。半導体業界で静電気放電(ESD: Electronic Static Discharge)技術を用いた測定、解析の分野では、国内シェア70%以上誇り、確固たる地位を築いています。 Chance(チャンス)、Challenge(チャレンジ)、Change(チェンジ)を合言葉に、時代や社会の変化を捉え、最先端技術の世界で常に進化し続けるべく、全社一丸となって邁進して参ります。