半導体部品の静電気に対する破壊強度を測定する装置です。
持ち運び可能なコンパクトESD試験器の姉妹機として、さらに、軽量、サイズダウン、低価格を実現することができました。 従来のコンパクトESD試験器と同様に、2ピン印加に特化する事で、汎用装置と同等の基本性能(ESD印加とリーク測定による破壊判定)を維持しています。 【特徴】 ○タッチパネルで簡単操作 ○各規格波形に対応 ○リーク測定機能 ○測定データのPC取り込み機能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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基本情報
【特徴】 ○タッチパネルの採用により、PCを使用せず本装置のみで印加測定が可能 ○JEITA/JEDEC/ESDA/AEC-Q100のHBM/MM規格波形に準拠 ○ESD印加後、リーク測定を行うことで破壊判定が可能 ○測定後の条件や測定結果をPCに接続し、 専用ソフトでテキストとして読み出すことができる ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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弊社は、半導体の品質管理に不可欠な評価測定や解析のための検査装置を開発・製造しているメーカーです。半導体業界で静電気放電(ESD: Electronic Static Discharge)技術を用いた測定、解析の分野では、国内シェア70%以上誇り、確固たる地位を築いています。 Chance(チャンス)、Challenge(チャレンジ)、Change(チェンジ)を合言葉に、時代や社会の変化を捉え、最先端技術の世界で常に進化し続けるべく、全社一丸となって邁進して参ります。