インダクタのインパルス試験を自動化し工程時間を大幅削減できる高速インダクタインパルス自動試験システム。
生産時の検査・測定において、巻線部品は製品の耐圧を保護するための検査を行います。例えばコイルの絶縁不良は普段使用する使用環境にて発生するレアショートによって引き起こされますが、これにより設計不良、molding加工不良、絶縁材料劣化等が発生します。そのため、レアショート試験を実施する必要性があります。 もし速度の遅い測定設備を使用しているなら、日々増加するカスタマーからの要求に対応することが出来ません。そこでクロマは測定器メーカーとして蓄えた専門知識を活用し、高速レアショート自動試験システムを開発しました。クロマの強みである測定器を組み合わせることで、高速かつ正確な自動化ソリューションを提供します。
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基本情報
■SMD型デバイス用試験システム ■対応サイズ：1.0mm x 0.6mm ～ 6.0 x 6.0 mm、高さ≦3mm ■テスト＆パッキング速度：600ppm～1500ppm ■レアショート判定機能 - エリア/ラプラシアン/Δピークレシオ/Δレゾナントエリア ■フィクスチャ（治具）寿命を延ばすコンタクトチェック機能搭載 ■自動検査システムの要件に基づき2～5台のテストステーションを提供 ■落下するインダクタを排除するインデックスディスク設計 ■4端子測定法テスト設計 ■各試験器ごとに独立したNG（No Good）製品の排出ボックスを保有 ■ソフトウェアによるリアルタイム製品品質モニタリング ■多言語対応：中国語/英語/日本語 ■高速、安定、安全なシステム設計 ■操作選択：単発動作、全自動操作、リファレンスデータサンプリングから操作を選択可能。インパルス試験機1台～複数台で測定可能 ■状態表示：試料満杯時、不足時にエラー表示 ■計数機能：Counter機能あり ■ソフトウエアにはパラメータ設定機能あり（HMI/PLCにインパルス試験機のパラメータ設定機能なし）
価格情報
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納期
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用途／実績例
著名チップインダクタ・セラミックデバイス製造メーカーに納入実績あり。
ラインアップ（1）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| 1871 | インダクタレアショート自動測定分類システム |
企業情報
1984年に台湾で創立されたChroma ATE Inc.は、高精度試験および電子計測器、自動検査システム、インテリジェントマニュファクチャリングシステムなどのテスト＆オートメーション・ターンキーソリューション領域をリードするグローバルサプライヤーとして、「Chroma」ブランドを全世界に展開しています。 クロマはICT、クリーンテクノロジー、スマートファクトリー、電気自動車（EV）、LED・レーザーダイオード、太陽光発電、バッテリー、半導体・IC、光通信、フラットパネルディスプレイ点灯器、モニタ・テレビ・ディスプレイ信号発生器、パワーエレクトロニクス、受動部品、電気安全試験、熱電計測、自動光学検査およびインテリジェントマニュファクチャリングシステムにおいて優れた試験器、検査システムを取り揃えています。 クロマジャパンはChroma ATE Inc.の日本法人として製品の販売と共にアフターサービスをローカル化し充実させるために設立されました。世界品質の製品を緻密なサポートを必要とする日本のお客様のために日々尽力しています。
