0.1μH～100μHまで対応可能な低インダクタンス用インパルス試験器。
19301Aは、印加電圧10Vdc～1000Vdcに対応し、高速200MHzのサンプリングによって取得した波形データを、4種類のインパルス試験判定方法（波形面積比較/波形差分面積比較/波形フラッター検出/波形二次微分検出）で高精度な測定が可能です。試供体インダクタンス試験範囲は0.1μH～100μHです。 巻線部品の測定には、電機特性試験や電機安全規格の測定耐圧測定などがあり、巻線部品が絶縁不良する主な原因の一つに使用環境によって発生するレアショートがあります。このようなレアショートの検出を行う場合にもご利用いただけます。 インパルス試験は0.1μHから測定可能。4端子試験回路機能を使用する事で、超低インダクタンスのコイル、チップ、パワーインダクタンス測定の他、チョークコイル、巻線数の少ないコイルの測定に最適です。また、コンタクトチェック測定、インダクタンス測定および電圧補償機能によってより精度の高い測定が可能となっています。
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基本情報
■インダクタンス試験範囲：(0.1uH~100uH) ■試験電圧範囲：10V~1000V ■最小分解能：0.25V ■最速試験時間：18mS(1パルス 標準充電時間) ■高速コンタクトチェック ■高速サンプリング(200MHz)、10bits ■降伏電圧（BDV）分析機能 ■電圧補償機能 ■低電圧測定レンジ：25V/50V/100V/200V/400V/800V/1000V ■多言語対応：繁体字/簡体字/英語 ■試験波形保存機能 ■LAN、USB、RS232インターフェース（標準） ■CEマーク
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納期
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用途／実績例
電源メーカー、インダクタメーカー、トランスメーカーの生産ラインでインパルス試験を行う際に最適。
ラインアップ（1）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| 19301A | 低インダクタンス用インパルス試験器 |
企業情報
1984年に台湾で創立されたChroma ATE Inc.は、高精度試験および電子計測器、自動検査システム、インテリジェントマニュファクチャリングシステムなどのテスト＆オートメーション・ターンキーソリューション領域をリードするグローバルサプライヤーとして、「Chroma」ブランドを全世界に展開しています。 クロマはICT、クリーンテクノロジー、スマートファクトリー、電気自動車（EV）、LED・レーザーダイオード、太陽光発電、バッテリー、半導体・IC、光通信、フラットパネルディスプレイ点灯器、モニタ・テレビ・ディスプレイ信号発生器、パワーエレクトロニクス、受動部品、電気安全試験、熱電計測、自動光学検査およびインテリジェントマニュファクチャリングシステムにおいて優れた試験器、検査システムを取り揃えています。 クロマジャパンはChroma ATE Inc.の日本法人として製品の販売と共にアフターサービスをローカル化し充実させるために設立されました。世界品質の製品を緻密なサポートを必要とする日本のお客様のために日々尽力しています。
