【LF帯・HF帯共振周波数検査機】 非接触ICカード、NFCタグ及び搭載製品、RFID各種製品、ワイヤレス給電
●NFC搭載製品やRFID各種製品におけるトラブル解決をサポート。 RFIDの不良トラブルには様々な原因があります。 例えば、「リーダライタとの共振周波数が合っていない」「内部アンテナが断線している」「製品に組み込むとうまく反応しない」などの場合、様々な原因が考えられます。 この様な時、不良の原因特定、完成製品の検査にT8200PROをご使用頂けます。 ●共振周波数検査をもっと便利に簡単に。 ネットワークアナライザなどの計測器は取扱いに専門家が必要です。対してT8200PROには複雑な操作がなく、検査に専門者が必要ありません。 USBケーブル１本でパソコンと接続して直ぐにスタート出来ます。どなたにも判り易い検査画面で担当者をサポートします。 その他、省スペースかつ軽量なので、トラブル現場への持ち運びも可能です。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
1）【非接触ICカードの共振周波数検査】 ICカードによっては、低パワー印加時と高パワー印加時で共振周波数が異なるものがあります。 本機では、印加パワーを-30 dBmから+15 dBmの範囲で設定できますので、リーダ・ライタとの通信時のようなICが動作する高印加パワーでの共振周波数特性を確認することができます。 2）【RFIDアンテナの自己共振周波数検査】 本機では、ICチップ実装前のRFIDアンテナ（低損失）の自己共振周波数の検査も可能です。 3）【RFID以外の自己共振周波数の検査】 本機の検査対象は非接触ICカード・RFIDに限りません。 検査周波数範囲は10KHz～100MHzでワイヤレス給電やパワーインダクタ、超音波センサ等受動素子の自己共振周波数の検査も可能です。
価格情報
お問い合わせ下さい。
価格帯
10万円 ~ 50万円
納期
※お問い合わせ下さい。
用途／実績例
別途お問い合わせください。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
私達テストラムはこの半導体産業において重要な役割を果たすテストシステムの分野で、独自の製品開発/販売を続けてまいりました。創業以来、常識や因習に固執することなく、自由闊達に技術・意見交換が行える若い社風をモットーとし、刻々と変化し続ける開発の現場で求められているものは何か、これから先求められるであろうテスターの資質とは何かを先取りする姿勢を固持。技術と、独創性においては他よりも一歩も二歩もリードするアドバンテージを主張し、創業から僅か数年で着実に信頼と、実績を築き上げてまいりました。 常に環境の変化に敏感であり、あらゆる可能性に挑むことを恐れない。新しい技術情報に耳を傾けることを怠らず、我々が得意とする分野に全社の総力を投入する。自分達の夢を信じ、可能性を語り合った創業当時からの熱意と、チャレンジャー精神を変わることのない伝統として受け継ぎ、私達はこれからも着実に時代を支える技術成果を世に送り出してまいります。