フィルムの微小歪をインラインで高精度に計測!10μmの微小歪を幅400mmの広範囲にわたり一度に計測できます!
面歪スキャニングセンサ『LINE STRIPER FV』は、 フィルムの微小歪をインラインで高精度に計測できます! 独自に開発したMR法(Mesh Reflection)にて歪を計測し、 対象物にスリット照明を映し込み、照明の歪み量から曲率を算出します。 本手法は、AFM(原子間力顕微鏡)などで使用されている、 光てこの原理で歪を増幅して計測するため、 パターン投影型の3D計測機に比べ高精度に計測/測定が可能です。 【特長】 ■高感度 一般的な3D計測機では測定困難な数μmの微小歪を計測することが可能 ■広範囲 幅400mmの広範囲をインラインで連続計測が可能 ■可視化 計測結果は曲率カラーコンター図で表示されますので、 微小歪部が一目瞭然! ※詳しくはPDFをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【仕様】 ■型式 :HIU-LS400-FV ■設置距離(ヘッド~サンプル間距離):150mm ■合焦範囲 :±25mm ■計測範囲 :幅400mm ※1 ■歪検出能力 :Z=10μm以上の面歪を検出可能 ■計測速度 :40mm/sec ※2 ■電源 :AC100V 300W以下 ■ケーブル長(ヘッド~PC間) :3m ■耐環境性/使用温湿度 :5~35℃ 30~80%RH (ただし結露なきこと) ■質量 :質量ヘッド部:約2.5kg ※詳しくはPDFをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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