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研究開発用 FT-IR スペクトロメータ『INVENIO R』

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最終更新日:2024年12月02日

ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
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独自の先進技術で最大5台の室温動作型検出器をサポート!作業効率が大幅に向上!

『INVENIO R』は、高度な構成の実験にも対応できる 極めて高い柔軟性を実現した研究開発用FT-IRスペクトロメータです。 新たな光学系により、遠赤外から可視/紫外まで幅広いスペクトル領域を 優れたSN比でカバーしつつ、高度な構成の実験にも対応。 オプションの一体型タッチパネルを使用することで、 さらにシンプルなワークフローと快適な操作環境が得られます。 【特長】 ■実験スペースを有効に活用できるコンパクト設計 ■乾燥密閉型光学ベンチ(パージ可能) ■ビームスプリッターの交換が容易なアライメントフリー ■摩耗ゼロ干渉計RockSolid ■ソフトウェア制御式、光入出力ポート(出力x3、入力x2) ■4つめの出力ポートも増設可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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研究開発用 FT-IR スペクトロメータ『INVENIO R』

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基本情報

【その他の特長】 ■測定および解析用 OPUS ソフトウェア ■ユーザーフレンドリーな操作環境を実現するOPUSTOUCH ■R&D ソフトウェア+タッチパネルPCオプション ■LED ライトバーによる洗練されたステータス表示 ■5台の検出器に対応する MultiTect テクノロジー ■ユーザーによる交換が可能な DigiTect 検出器スロット ■透過測定専用 Transit チャンネル(DTGS 検出器装備) ■24 ビットダイナミックレンジ、デュアルチャンネル ADC による、  フルデジタル信号処理 ■6000 cm-1から 80 cm-1 まで一度の測定でカバーする、Bruker FMテクノロジー ■近赤外、遠赤外、紫外可視域へのアップグレードも容易 ■各種変調測定と時間分解測定を実現するラピッドスキャン、  スロースキャン、ステップスキャン機能 ■すべての VERTEX 用アクセサリと外付けモジュールとの互換性を継承 ■試料室バイパス/ダイレクトエミッション光路オプション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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用途/実績例

【用途】 ■ラピッドスキャン分光電気化学 ■Bruker FM 超広帯域スペクトル ■TGA カップリング ■ステップスキャン ■積分球による反射率測定 ■可視領域のスペクトル ■エミッション・発光測定 ■複数の光入出力ポート など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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研究開発用 FT-IR スペクトロメータ『INVENIO R』

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【NEW!】RockSolidTM / ALPHA II 比類ない安定性

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【2022年最新版】ブルカージャパン(株)オプティクス事業部 総合カタログ

【2022年最新版】ブルカージャパン(株)オプティクス事業部 総合カタログ

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【技術資料】『学術研究における FT-IR』

【技術資料】『学術研究における FT-IR』

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オプティクス事業は1960年、ブルカーグループの赤外分光分析部門として、ドイツにおいてスタートしました。高い設計思想をベースに開発された製品群は、生産管理や品質保証を目的として日常的に利用される専用機から、先端材料の研究開発において威力を発揮するリサーチモデルまで多岐に渡ります。ドイツ・エットリンゲンを開発製造の拠点として、グローバルな販売・サービスネットワークを通じてお客様の様々なニーズにお応えしています。

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