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可視近赤外反射測定用分光測定システム

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最終更新日:2019年04月18日

オーシャンフォトニクス株式会社
オーシャンフォトニクス株式会社
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異なる波長域を持つ2台の分光器を組み合わせた広帯域分光反射測定システム!

『OP-SpecWide-RF』は、可視から近赤外域(400~1650nm)までの 幅広い測定範囲をカバーした安価型の広帯域分光反射測定システムです。 シリコンCCDディテクタ搭載のFLAME-S分光器で可視域の測定に、またInGaAs ディテクタ搭載のFLAME-NIRで近赤外域の測定に対応し、付属の分光測定用 標準ソフトウェアOPwave+で2つのスペクトルの表示、データ保存が可能です。 異なる2つの分光器の組み合わせで、広帯域の分光光度計と 同様の測定システムとしてご使用いただけます。 サンプルホルダ、光学ステージの選択により、広帯域に反射分布を持つ 半導体、コーティング、食物など様々な材料の反射測定に対応できます。 【特長】 ■幅広い測定範囲をカバー ■安価型 ■可視域・近赤外域の測定に対応 ■広帯域の分光光度計と同様の測定システム ■様々な材料の反射測定に対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

    その他計測・記録・測定器分光分析装置
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可視近赤外反射測定用分光測定システム

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基本情報

【システム構成例】 ■FLAME-S ファイバマルチチャンネル分光器  グレーティング#3: 350~1000nm /入射スリット幅 5μm ■FLAME-NIR 近赤外ファイバマルチチャンネル分光器  グレーティング#NIR3: 950~1650nm/入射スリット幅 25μm ■HL-2000-LL  ハロゲン光源 ■R200-12-MIXED 3分岐広帯域反射プローブ ■OPwave+ 分光測定用標準ソフトウェア ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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用途/実績例

【用途】 ■食品、農産物の反射測定による分光分析 ■レンズ・フィルタなど光学部品の反射測定 ■半導体、太陽電池基板、ガラス材料などの反射測定 ■薄膜・コーティングの干渉スペクトル測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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可視近赤外反射測定用分光測定システム

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光測定器を中心に、世界中のメーカーを網羅した最先端の製品を幅広くご用意し、強力なラインナップでお客様のニーズにお応えします。 きめ細やかなカウンセリングを行い、お客様一人ひとりの環境に合ったプロダクトをご用意。また、単なる製品のご案内にとどまらず、ご状況や目的に合わせたシステム構成のご提案でお客様の高い満足を生み出します。 「●●を△△したい」、「●●が△△で困っている」。 そんな時にはぜひご相談ください。私たちオーシャンフォトニクスは長年培ってきた知識と経験を駆使し、お客様の「実現したい」を叶えます。

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