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光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

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最終更新日:2019年07月01日

シナジーオプトシステムズ株式会社
シナジーオプトシステムズ株式会社
  • 公式サイト

【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできます。

『M-Scope type HS』は、1~10Wクラス高出力レーザのNFP・ 発光ビームプロファイル計測用光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、 2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて 2次元画像検出器に結像する方式を採用しています。 これにより、さまざまな対物レンズ倍率下で高出力レーザの 発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に計測することができます。 【特長】 ■ビームサンプラー(対物レンズ後方2段)と減光フィルタの組合せにより 高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ■さまざまな対物レンズ倍率の選択が可能 (M-Plan Apo NIR、M-Plan Apo NUVシリーズ各種対物レンズ) ■コリメート光計測が可能(対物レンズ無装着状態) ■同軸落射照明ポートを標準装備。同軸落射照明装置(オプション)との  組合せで顕微鏡画像観察・実像による位置合わせが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

    その他電子計測器その他計測・記録・測定器その他解析
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光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

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  • 関連リンク - http://www.synos.jp/optics/optics_mstypehs.html

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基本情報

【仕様(抜粋)】 ■方式:ビームサンプラー(対物レンズ後方2段)搭載型NFP計測光学系+画像処理解析方式 ■測定対象入射光量:1~10W ■減光方式:2段ビームサンプラーにより約99.99%減光(反射光はビームダンパーにより遮蔽)、およびフィルタポートへの減光フィルタ挿入併用方式(最大2枚まで同時挿入可能) ■測定対応波長域  ・M-Scope type HS/BL:400nm-450nm  ・M-Scope type HS/NIR:850nm・940nm  ※上記以外の計測波長対応に関してはご相談ください ■偏光依存性補償:ビームサンプラー内蔵減衰ミラー2段直交配置による偏光依存性補償 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯

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用途/実績例

【応用分野】 ■高出力レーザ・高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析 ■LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発 ■生体認証用レーザモジュールの開発 ■その他、医療用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

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シナジーオプトシステムズ株式会社

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シナジーオプトシステムズ株式会社は、光学技術・センサ技術・エレクトロニクス・ソフトウエア・精密機構技術を融合したユニークで新しいセンサ・電子光学機器の創造を目指しています。当社では、光学設計・光センサ・光源・光モジュール・計測システム設計の各分野で多くの経験と実績を有するエンジニアが、お客様のご要求仕様を分析し、最適なソリューションをご提案させていただきます。また、お客様のご要求仕様に基づく光学系や光学システムをカスタムで設計・製作させていただくことも可能です。

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