専用光学系＋画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用システム
『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール 等のFFP(ファーフィールドパターン：遠視野像)を計測する装置です。 専用光学系＋画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測・ 放射角度分布計測・出射 N.A. 計測・解析に応用可能です。 光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで 様々なシステム構築が可能です。 【特長】 ■FFP計測光学系M-Scope type Fを使用 ■専用光学系＋画像処理解析方式で、測定も迅速で調整も容易 ■ワーキングディスタンス約6mmの長作動距離設計 ■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能 ■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データが セットになった光ビーム解析モジュールAP013を搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【その他の特長】 ■オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能 ■光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア Optimetrics BA Standard使用 ■Optimetrics BA Standardは、EF/EAF計測機能にも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール等のFFPの計測 ■各種光デバイス・光モジュールのFFP計測・解析 ■種光デバイス・光コンポネントのN.A.計測・解析 ■マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス解析 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
シナジーオプトシステムズ株式会社は、光学技術・センサ技術・エレクトロニクス・ソフトウエア・精密機構技術を融合したユニークで新しいセンサ・電子光学機器の創造を目指しています。当社では、光学設計・光センサ・光源・光モジュール・計測システム設計の各分野で多くの経験と実績を有するエンジニアが、お客様のご要求仕様を分析し、最適なソリューションをご提案させていただきます。また、お客様のご要求仕様に基づく光学系や光学システムをカスタムで設計・製作させていただくことも可能です。