チップ単体でのパワーデバイスを測定する動特性検査装置です。 ウェーハ状態での検査装置も多くの実績があります。
各種半導体（IGBT、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等）のウェーハチップ単体を対象とした動特性測定装置（AC特性測定装置）です。チップ単体での出荷検査や受け入れ検査をはじめ、パッケージ封止前の工程での動特性検査が可能になります。
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基本情報
対象素子 N-Ch IGBT/P-MOS FET Diode SW TIME VCC:1000V IC:1000A VG:±20V VCE(SUS) VCC:1000V IC:2000A VG:±20V VCE(SUS): 2500V インダクタンス L:3μH～1mH 波形取得 D.S.O. その他 パレット供給・分類収納機能 ※本仕様は一例です。詳細はお問い合わせください。
用途／実績例
高精度な位置決めとプロービング技術によりチップ単体での動特性（AC特性）試験が可能に 新開発のコンタクト方式による低Ls測定を実現
企業情報
コペル電子は神奈川県厚木市にあり、ハイブリッドカー（HV）や電気自動車（EV）に用いられる大電力半導体の計測・検査装置を手がけ、自社ブランドで開発・設計・製作を行っている先端技術企業です。 国内では大手電機メーカー・自動車メーカー等を顧客として高い評価をいただいています。 また、0℃の環境を高精度で維持する「ゼロコン」は理科学研究・校正施設のユーザー様より、なくてはならない装置として高い評価をいただいています。