出荷・受け入れ時点での、モジュールへの安心。大量生産を強力に支援します
『接触・非接触COT検査発行装置』は、ICカード用モジュールCOT（Chip On Tape）の出荷検査、並びに受け入れ検査及び発行を行う装置です。 COT段階でテストを行い、良品だけに共通部分のプログラムを書き込むことが できれば、0次・1次発行でのICカードの生産性を向上することが可能。 一般的なDC特性測定、高温負荷検査、非接触でのポーリング検査、発行、 外観検査も行えます。 【特長】 ■生産性を向上させることができる ■測定項目の変更や追加には、カスタマイズで柔軟に対応 ■お客様の信頼性あるICモジュール製品の大量生産を強力に支援 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【仕様】 ■基本機能 ・接触検査発行部（T8000参照） ・非接触検査発行部（ポーリング・コマンド伝送試験・発行） ・外観検査部（COT端子表面傷汚れ検査・モールド面形状位置ずれ検査） ・不良パンチ部 ■参考外形寸法：本体3500W×1800H×900D（mm） ■要求設備 ・三相200V30A ・エア0.5MPa 70L/min ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
私達テストラムはこの半導体産業において重要な役割を果たすテストシステムの分野で、独自の製品開発/販売を続けてまいりました。創業以来、常識や因習に固執することなく、自由闊達に技術・意見交換が行える若い社風をモットーとし、刻々と変化し続ける開発の現場で求められているものは何か、これから先求められるであろうテスターの資質とは何かを先取りする姿勢を固持。技術と、独創性においては他よりも一歩も二歩もリードするアドバンテージを主張し、創業から僅か数年で着実に信頼と、実績を築き上げてまいりました。 常に環境の変化に敏感であり、あらゆる可能性に挑むことを恐れない。新しい技術情報に耳を傾けることを怠らず、我々が得意とする分野に全社の総力を投入する。自分達の夢を信じ、可能性を語り合った創業当時からの熱意と、チャレンジャー精神を変わることのない伝統として受け継ぎ、私達はこれからも着実に時代を支える技術成果を世に送り出してまいります。
