有機・無機材料の局所分析はお任せください！
当社では、新しく開発される材料の微小領域を対象とした局所分析を行う 『形態観察サービス』を提供しております。 有機・無機材料の局所分析は、電子線やイオンを使用する方法によって 結晶構造や元素分析、さらに結合状態をナノメータで解析します。 これらの情報と材料の特性・機能の関係を調べることから、 新素材の可能性を明らかにし、開発の前進に貢献します。 【分析例】 ■セラミックス、金属、ポリマー材料の形態観察 ■セラミックスの界面構造の分析 ■触媒中の活性金属の粒子径分布および組成分析 ■各種電池材料の解析 ■繊維材料の平面・断面分析 など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【主な機器】 ■Cs補正走査透過電子顕微鏡（Cs補正STEM） ■電界放射型透過電子顕微鏡（FE-TEM） ■電界放射型走査透過電子顕微鏡（FE-STEM） ■高分解能透過電子顕微鏡（HR-TEM） ■エネルギー分散型X線分光装置（EDS） など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
当社は、1987年に宇部興産株式会社の研究開発部門から、 分析・評価グループが分離・独立して誕生致しました。 以来、トップレベルの分析および関連技術を通してお客様のさまざまな ニーズにお応えすることで、お客様と社会の発展のお手伝いをさせて 頂いております。 幅広い産業のお客様から、有機、無機、各種材料の組成分析、構造解析、 表面分析、形態観察、超微量分析、安全性評価など種々の分析・評価の ご要望を頂き、それに対して『迅速に・精緻に・確実に』をモットーに、 お客様の課題解決に十分貢献できるように、ご満足いただけるように 努めてまいります。