専用GPIBを使用したLO制御、IF制御での特性評価が可能な雑音指数アナライザ
当社では、10MHz～26.5GHzの周波数帯域で、最大30dBまでの雑音指数の 測定が可能な雑音指数アナライザ『N8975A/N4002A』を取り扱っています。 ノイズソース（N4002A）を使用し、利得測定も行えます。 また、雑音指数測定、利得測定の同時測定も可能です。 【特長】 ■雑音指数測定と利得測定を同時に実行でき、またデータを 様々なフォーマットで表示、プリント、保存が可能 ■専用GPIBを使用したLO制御、IF制御を使用した増幅器（アンプ）や 周波数変換装置（ミキサー）の特性評価にも使用可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【主な仕様】 ■N8975A 雑音指数アナライザ ・周波数帯域10MHz-26.5GHzをワンボックスのソリューションで提供 ・標準でAPC 3.5（メス）コネクタを装備 ■N4002A ノイズソース ・10MHz-26.5GHzの周波数帯域 ・ENR校正データの電子保存により、ユーザによるエラーが減少 ・ENRデータを雑音指数アナライザへ自動ダウンロードすることにより、 全体的なセットアップ時間を短縮 ・温度補正により、測定確度が向上し、厳密なデバイスの性能仕様を実現 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
公益財団法人 福岡県産業・科学技術振興財団 三次元半導体研究センターは、3次元実装技術の中でも、プリント基板内部に能動素子、受動素子を内蔵して3次元に配線する部品内蔵基板の設計から製造、試験、評価・解析が量産レベルで行える施設があります。 通常のプリント基板製造ラインに加え、基板内部に部品を搭載する実装装置、接続信頼性を評価するための高温高湿振動試験装置などを備えています。 また、8インチのシリコンウェハラインがあり、評価用のTEG(test element group)チップ開発が可能です。 更に、シリコン貫通電極(through silicon via: TSV)を用いたチップの3次元積層やプリント基板の替わりにシリコン基板を用いるシリコンインターポーザの開発も可能です。
