SiO2薄膜の厚み測定や、ITO薄膜の厚み測定などに！膜厚演算や解析などを行います
『SR10-FF』は「SR-5000」による測定データを読み込み、膜厚演算や 解析などを行うソフトウェアです。 標準仕様では、0.5μm～15μm(0.001μm)、標準＋薄膜解析では 0.01μm～15μm(0.001μm、0.1nm)の範囲を測定可能。 その他製品に関する詳細は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【測定範囲】 ■標準仕様：0.5μm～15μm(0.001μm) ■標準＋薄膜解析：0.01μm～15μm(0.001μm、0.1nm) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
これからは多岐にわたってさまざまな分野の技術が、いろいろなところで活かされることが求められると考えております。 そのためにシステムロードは研究、開発、生産の分野においてさまざまなシーンにお応え出来るよう努力してまいります。 光・エレクトロニクス・メカトロニクス・ソフトウェアを融合させて「照明」・「素材」・「医薬」を軸に幅広い研究、開発、生産の分野に貢献していきたいと思っております。