平面形状測定用 反射・透過波面測定！サブナノメートルレベルの位相測定を行える
『OptoFlat』は、低コヒーレンス干渉原理を使用し、平面形状を簡単に 測定することが可能なInterOptics社製の干渉計です。 小型かつ安定した機械設計でありながら、従来の干渉計と比較して低価格。 高出力LED光源で使用することにより、レーザースペックル干渉や 光学系内部干渉が発生せずクリアな干渉縞が生成される、 サブナノメートルレベルの位相測定を行うことができます。 【特長】 ■低コヒーレンス干渉原理を使用 ■平面形状を簡単に測定することが可能 ■小型かつ安定した機械設計 ■従来の干渉計と比較して低価格 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【低コヒーレンス干渉原理の特長】 ■裏面反射の軽減 ■高出力LED光源 ■簡単操作と透過波面切り替え ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■平面形状測定用 反射・透過波面測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
光学分野のデファクト・スタンダードとして世界中からご愛顧いただいております。また、弊社の光学計測サービスも多くの光学メーカー様やその他の機械メーカー様にご利用いただき、研究・開発業務をサポートさせていただいております。 TRIOPTICSGROUPでは、様々な新製品の研究・開発を行っており、測定分野のあらゆるニーズに対応できます。測定に関することは、なんでもお問い合わせください。