CH数やFETパッケージ、試験条件に合わせたシステム構築をご提案致します！
『半導体RFバーンイン装置 試験用』は、高周波デバイス（以下FET）の 通電試験装置です。 用途に応じ、ホットプレート（ヒーター）タイプ、恒温槽タイプを選択可能。 お客様のFETを壊すことなく安全に装置を停止する安全回路を搭載しています。 大手半導体メーカ様の各種ラインアップに対応しており、特殊なFETにも 自社開発により柔軟に対応できます。 【特長】 ■多様な装置構成 ■発振に強い ■安定動作が可能 ■高温下にてバーンイン試験を実施することが可能 ■CH数やFETパッケージ、試験条件に合わせたシステム構築を提案 ※詳しくは製品詳細情報をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【その他の特長】 ■用途に応じ、ホットプレート（ヒーター）タイプ、恒温槽タイプを選択可能 ■試験条件設定、通電試験、データ取得までを全自動化が可能 ■任意のFETに合わせ冶具形状（バネタイプ、ワンタッチタイプ）をカスタマイズ可能 ■1968年創業時より蓄積された高周波回路技術を駆使し、発振しにくい治具を実現 ■各種ラインアップに対応しており、特殊なFETにも自社開発により柔軟に対応可能 ■ハードウェア通電制御により、高温時の半導体が不安定動作になる現象を抑制 ■素早い通電制御が可能であり高温時でも安定した動作を実現 ■お客様のFETを壊すことなく安全に装置を停止する安全回路を搭載 ■計測用PCとの通信断となっても装置内に測定データを保持できる ※詳しくは製品詳細情報をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■信頼性評価 ■量産時のスクリーニング用 ※詳しくは製品詳細情報をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
企業情報
高周波無線技術をバックボーンとした減衰器やフィルタ、切替器などの高周波デバイス。 その応用として市場を拡大しつつある無線通信用の計測機器。オリジナリティにこだわる製品開発を進める一方で、 小型化・低価格化などにも取り組み、マーケットのニーズに幅広く対応する先進の製品を提供しています。
