NIR分光計の技術仕様、測定性能に対する影響、他の分光計の技術とその利点・欠点を明らかにします！
NIR（近赤外）分光計を構築するために数多くの異なった技術が利用できます。 当資料では、FT-NIR（フーリエ変換近赤外）干渉計、回折格子モノクロメーター 及び固定回折格子検出器ダイオードアレイの各技術を比較します。 共通して使用される仕様の定義、それらの測定性能への影響、様々な分光計技術 並びに各技術の利点及び欠点について述べておりますので、ご一読ください。 【掲載内容】 ■前書き ■仕様の定義 ■仕様の影響 ■様々な技術の説明 ■様々な技術の利点及び欠点 ■まとめ ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
当社は昭和49年に設立し、分析装置の開発・製造を行っている会社です。農産品、食品、医薬品と化学薬品の分野において、サプライチェーンの全体にわたる品質と工程を日常管理するための迅速で信頼性高い最適化されたソリューションを提供いたします。生産工程での時間の節減、原材料のより効率的な利用、安定した高品質の製品の生産、食品安全性の最適化をコンセプトに高精度で使いやすい分析装置をお客様にお届けいたします。