Shack-Hartmann方式波面センサを使用した検査・調整システムです。タクトが要求される⽣産ラインへの導⼊に適しています。
・ダイナミックレンジが広く、⼲渉計では困難な⼤きな収差も計測できます。 ・⾼速演算処理により30Hz（max）のリアルタイム波⾯収差計測が可能です。 ・計測⽤光源はお客様の要望に応じてカスタム対応できます。（多波⻑対応可能） ・振動や温度の影響を受けにくいので、⽣産⼯程でも安定した計測ができます。 ・量産⼯程向けの機能・操作性を考慮した波⾯計測ソフトウェアWFS2を提供できます
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基本情報
◇測定項⽬： 総合波⾯収差 (PV, Rms)、Zernike 多項式係数（最⼤ 36 項）、Seidel 収差係数 ◇測定精度（Rms）：λ/100 以下（3σ） ◇測定再現性（Rms）：λ/300 以下（3σ） ◇被験レンズ測定有効径：φ4 〜 9.8mm ※エキスパンダーオプションにて変更可 ◇被験レンズ測定最⼤ NA：0.85 ◇測定光源波⻑：635nm±10nm ※レーザオプションにて変更可 搭載波⾯センサ ：⾼速波⾯センサ PWS-1000 １インチサイズ ※その他のモデルにも変更可能です。 最⼤測定更新速度：30Hz 測定収差範囲（Seidel Sa3）：3 50λ Coeff. 制御・解析ソフトウェア ：パルステック⼯業製WFS2
価格帯
納期
用途／実績例
・⾮球⾯レンズ、凸凹レンズの検査 ・レンズユニット・光学デバイスの調整 ・平⾯物の反射および透過波⾯検査
企業情報
パルステック工業は、創業当初から「研究開発型モノづくり企業」を志向し、既存製品では対応困難な省力化機器や検査設備などを数多く手掛け、 お客様の生産性の向上や品質向上に寄与してまいりました。 「ポータブル型Ｘ線残留応力測定装置」や「蛍光検出ヘッド」は、今まで培ってきた要素技術を複合することにより自社開発した製品であり、各方面から高い評価を得ています。 解決困難な課題、特注設備、共同開発、技術者派遣などお客様のニーズに合わせ、最適な解決策をご提案いたしますので、お気軽にお問い合わせください。 カスタムニーズ（特殊仕様）に対応する技術者 Ｘ線取扱技術 ・Ｘ線作業主任者 ３７名 回路設計技術 ・電気機器組立技能者 ３名 光学設計技術 ・国際光技術者 １０名 機構設計技術 ・機械設計技術者 ７名 ・金属材料試験技能者 １９名 ・３次元ＣＡＤ利用技術者 ３名 ソフトウエア開発技術 ・情報技術者 ２３名 ・ソフトウエア品質技術者 ２名 ・ＬａｂＶＩＥＷ認定資格保有者 ３名
