ソフトウェア"PHOTO-WAVEjω"を使用！球体にあたった後の散乱波を有限要素法により解析
平面波が散乱体に入射し、散乱されたときの遠方場での散乱波を 有限要素法により推定した事例をご紹介します。 電場がX軸方向に偏波した平面波をZ軸方向に入射し、この球体にあたった 後の散乱波を有限要素法により解析。 次にその結果をもとにして遠方場の散乱波を2種類の方法で推定し、 その結果を比較します。形状はフルモデルとしました。 【使用ソフトウェア】 ■PHOTO-WAVEjω ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【解析条件】 ■解析モデル ・誘電体球(半径：a)の周囲を空気(半径:R)で包む ・空気層の外周には「インピーダンス境界」を設定し、「無反射境界条件」とする ■入射する平面波 ・大きさ：X軸方向 (実部) 1[V/m] (虚部) 0[V/m] ・進行方向：Z軸方向 ・周波数：20[GHz] 波長 λ＝1.5×10^−2[m] ■誘電体球 ・比誘電率：1.56 ・誘電体球の半径(a)と空気層の半径(R)：3種類 ■散乱波を観測する遠方場の観測点：半径1.0[m]の円 ■遠方場の推定方法：外場計算による方法、多重極展開による方法 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
フォトンでは、電磁現象を利用した製品、部品などをコンピュータ上でモデル化し、 シミュレーションする「電磁場解析用ソフトウェア」を開発しています。 従来の設計や開発の現場においては技術者の方の経験に基づく試作と、試作品による実験をループにした試行錯誤が中心でした。 しかし、実際に試作品を使った実験を行いその結果を検討するには多大な時間とコストを要します。 今後は、実験・試作ベースから解析ベースの設計への移行が生産性向上において重要課題であり、解析ベースの設計技術の中核となるシミュレーション技術の確立が課題となります。 このような状況の下、フォトンでは、電磁場を中心に、熱、振動についての「解析ソフトウェア」を開発し提供させていただいております。フォトンのソフトを活用して頂くことで、各種工業製品の開発・設計を効率よく行うことが出来ます。このようにして、フォトンは、ユーザー様の製造現場において、試作の回数や開発費用の低減、開発期間の短縮を実現し、ひいてはユーザー様の競争力強化を支援していきたいと考えています。
