熱抵抗の簡易評価から不良解析まで、半導体のIV特性測定で多目的に活用いただけるサービス
当社では、「IV特性測定サービス」を行っております。 半導体のIV特性は基本的な電気測定として多くの目的で測定されております。 通常の製品評価だけでなく、不良解析や熱抵抗の簡易評価にも活用します。 簡易な予備実験レベルで、多くのサンプル間での相対的な比較が可能です。 熱飽和時のVF特性としての変化量を測定し、熱引けの良し悪しを評価します。 単独のIV測定だけでなく、電気-光の関係における簡易検査や、電気-熱の関係に対する簡易相対評価も可能です。 異常解析の初期確認など、さまざまな用途でご相談いただけます。
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基本情報
・測定電源を、VBAで動作させ指定の電流、電圧、タイミングで測定します。 ・SMDなどプローブが難しい物も、測定用治具を設計いたします。 ・解析したい目的にあった測定範囲、評価が必要です。 提案いたします。
価格帯
納期
用途／実績例
・ 不良品の基礎解析として、測定結果から不良原因の想定 不点灯原因の確認としてIVカーブを測定。 オープン、ショートの確認、ダイオード特性の異常の有無を確認 使用状況から、熱、サージなど破壊要素の推定 ・温度特性評価の基礎データとしてKファクターの測定 ・ 光出力測定用として、電流、光出力の関係から劣化状態を推定 ・そのた、製品動作問題の原因仮説検討用
詳細情報
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単品のSMDパッケージも半田づけなしで測定。 測定用治具も作製します。
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企業情報
私たちは半導体デバイス、関連材料の研究・開発を担当されている方々の手足として問題解決のお手伝いをいたします。 （１）問題解決支援サービス 研究・開発は問題解決そのものがメインテーマです。 累計10,000件を超える関連試作の経験を活かし調査、解析、実験提案いたします。 （２）電子部品加工サービス 特にセンサー類は、専用設備対応が難しい異形なものが多くあります。 少量の場合、投資バランスが問題でスタートできない場合があります。 試作対応の経験を活かした少額投資での生産提案が可能です。 お客様で専用ライン構築されるまでの、少量時対応も行っております。 （３）試作関連治具・装置開発サービス 半導体関連材料開発当初、機能評価用の装置や治具を作製する必要が発生します。 ほとんど場合、専用評価装置が存在しますが、多機能で高額です。 開発初期段階で、単機能の比較評価用の簡易装置が必要な時にご利用いただけます。 シート関連、パッケージ樹脂、封止樹脂、蛍光体、QDなど用として実績があります。