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Wavecontrol社 電界プローブ WPF90

最終更新日:2023年06月09日

ウェーブクレスト株式会社
ウェーブクレスト株式会社
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高性能 高周波 等方性電界プローブ 90GHzまで測定可能!

【特徴】 ・高感度 ・等方性&実効値測定 ・優れた減衰 ・国際標準適合

    その他電子計測器強度試験装置EMC試験
WPF3.png

等方性電界プローブ WPF90 90GHzまで測定可能!

WPF3.png
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基本情報

【主な仕様】 周波数レンジ:30MHz - 90GHz センサータイプ:Isotropic, RMS 周波数特性タイプ:Flat フラット測定範囲:2 – 1000 V/m (CW)、2 – 60 V/m (RMS) ダイナミックレンジ: 53 dB 感度:2 V/m  周波数特性:  ±3 dB (100MHz – 50GHz)  +1/-6 dB (50GHz – 60GHz)  +0/-9 dB (60GHz – 90GHz) 等方性偏差:  ±1 dB (< 12GHz)  ±2 dB (12GHz - 40GHz)  ±3 dB (40GHz - 90GHz) ダメージレベル (CW):1200 V/m 校正:ISO 17025 認定 (ILAC) 24カ月(推奨) 操作温度:-20ºC - 50ºC 寸法:284 mm x 60 mm Ø 重量:95 g 減衰@50/60Hz:>40dB

価格帯

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納期

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用途/実績例

・遠距離通信 - 無線通信ネットワーク:IEC 62232, EN 50400, EN 50401  - 放送:IEC 62577, EN 50475, EN 50476, EN 50496, EN 50554  - 衛星設備 ・職場評価:EN 50499  ・能動埋め込み型医療機器(AIMD)装着労働者評価: EN50527-1  ・人体暴露評価:EN 50413 ・研究、実験室  ・マイクロ波乾燥  ・漏れ検知 ・レーダー ・防衛(HF)

ラインアップ(14)

型番 概要
WP400 1Hz-400KHz: Selective field probe 1Hz-400KHz E & H fields
WP50 10Hz-3KHz: Broadband field probe 10Hz-3KHz E&H fields
WPF3 100KHz-3GHz: Broadband field probe 100KHz-3GHz E field 0.2-130V/m
WPF3-HP 100KHz-3GHz: Broadband field probe 100KHz-3GHz 0.2-1000V/m
WPT GSM, UMTS, 3G: 100KHz-3GHz: Broadband field probe at selected Mobile Telephony Bands, GSM, 3G, LTE
WP-Wifi 2.4GHz : Broadband field probe at selected WiFi 2.4GHz
WPF6 100KHz-6GHz: Braodband field probe 100KHz-6GHz E field 0.3-130V/m
WPF6-HP 100KHz-6GHz: Braodband field probe 100KHz-6GHz E field 0.3-1000V/m
WPF8 100KHz-8GHz: Braodband field probe 100KHz-8GHz E field 0.3-130V/m
WPF8-HP 100KHz-8GHz: Braodband field probe 100KHz-8GHz E field 0.3-1000V/m
WPF18 300KHz-18GHz: Braodband field probe 300KHz-18GHz E field 0.5-250V/m
WPF18-HP 300KHz-18GHz: Braodband field probe 300KHz-18GHz E field 0.5-1000V/m
WPF40 1MHz-40GHz: Braodband field probe E field 1 – 1000 V/m (CW) 1 – 55 V/m (RMS)
WPF90 30MHz-90GHz: Braodband field probe E field 2 – 1000 V/m (CW) 2 – 60 V/m (RMS)

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EMC試験・汎用計測におけるユニークで新しいソリューションを提供する企業として、ウェーブクレスト株式会社は活動しています。高度化する電子・通信環境はその製品の性能ばかりでなく社会全体の安全性をも左右する社会インフラとして、高い安全性、信頼性が求められています。従来の試験方法や機器にとらわれずマーケットが必要とする新しい製品やソリューションを提供していきたいと考えます。

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