走査電子顕微鏡(SEM)による拡大観察及び元素マッピングを実施！断面観察事例をご紹介
車ドアハンドルカバーのめっき層がどうなっているのか調べるため断面を 作製し、走査電子顕微鏡(SEM)による拡大観察及び元素マッピングを 行った事例をご紹介いたします。 めっき部分についてイオンミリングにより断面を作製し、厚みを計測。 全めっき厚は11〜12μm程度、最表層の薄いめっき(クロム)は85nm程度、 その下2層目のめっきは850nm程度であることがわかりました。 また、元素マッピングを行った結果、下地が厚い銅めっきで、これの上に ニッケルめっき、その上にクロムめっきを施したものであると確認されました。 【事例概要】 ■調査試料：車ドアハンドルカバー ■断面観察：めっきの厚み計測 ■元素マッピング：元素分布を調査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
東邦化研株式会社材料解析部では、拡大観察・計測・組成調査・異物の 分析等、お客様の材料・部品の品質確認、問題解決のお手伝いをする 分析・解析サービスを提供しております。 既存製品と新製品の差異評価のお手伝いや、イオンプレーティング部との 協業による薄膜評価のお手伝いも行っております。 われわれは“お客様とともに”をモットーに、お客様とのお打ち合わせや 情報交換を密にすることで、問題解決・ほしい分析情報をご提供します。
