超広角カメラ向け低照度測定において最適な多目的テストチャート！ImageEngineering社製の精選テストチャートをご紹介！
『TE42-LL UW (TE42-LL Ultra-Wide)』は、ImageEngineering社の低照度測定用多目的チャート『TE42-LL』を超広角カメラ向けに改良したテストチャートで、テスト画像に存在する歪曲収差が原因で正確な解像度の測定が困難な超広角カメラの低照度測定に適しています。歪曲収差が存在する場合（超広角カメラにおいては一般的）でも解像度をより正確に測定できるように、格子状のターゲットを使用しています。 TE42-LL UWは、iQ-Analyzer-X ソフトウェアのバージョン 1.10.0以降で解析可能です。
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企業情報
トライオプティクス・ジャパンでは、カメラの画質評価における世界的リーディングカンパニー、ドイツImage Engineering (IE)社の日本総代理店として、 IE社の画質評価用光源・チャート・ソフトウェア等の製品販売から評価ソリューションの提案、計測サービスまで行っています。 IE社は、ISO/TC42やIEEE-P2020（自動車用画質規格の制定を行うワーキンググループ）などの画質に関する国際委員会において規格づくりに参画しており、IE社の数多くの製品・ソリューションが国際規格に準拠しています。 弊社横浜事業所では、暗室環境を備えたラボを設置して、IE社の各種光源・チャート・解析ソフトウェア等のデモ機材を常設しており、国際規格に沿ったカメラの画質性能評価用製品やソリューションのご紹介・ご提案をはじめ、ご購入を検討されているお客様へは、画像の撮影から解析までの一連のデモ測定が可能です。 また、IE社製品を使用した画質性能計測サービスも行っており、車載カメラ・デジタルカメラ・セキュリティーカメラ・医療用内視鏡カメラ等の様々な産業分野のカメラモジュールの画像性能評価項目の測定を実施しています。
