【ICコンポーネントテストのプロセスを徹底解説】半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料を無料進呈中！
ICコンポーネントテストとは、集積回路（IC）と呼ばれる電子部品が 正常に機能するかを確認するためのテストのことです。 ICコンポーネントテストのプロセスは、壊れたICコンポーネントと、 お客様に出荷される正常なデバイスとの違いを確認するためのものです。 現在『半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料』を無料進呈中です。 ICコンポーネントテストのより詳しい解説やその他基礎知識に関しても分かり易く解説をしておりますので ぜひご確認ください。 【資料掲載内容（一部抜粋）】 ■ICコンポーネントテストとは何か？ ■不良デバイスとは何か？ ■欠陥とは何か？ ■欠陥モデルとは何か？ ※『半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料』はPDFダウンロードボタンよりご確認ください！
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ロチェスターエレクトロニクスは、70社以上の主要半導体メーカーより認定された、半導体製品を継続供給する業界最大手の正規販売代理店及び製造メーカーです。 オリジナル半導体メーカーより認定された正規販売代理店として、150億個以上の在庫と20万種類以上の製品群を持ち、世界最大規模の製造中止品及び現行品を供給しています。 またオリジナル半導体メーカーより認定された製造メーカーとして、ダイ換算で120億個以上のウェハ在庫を持ち7万種類を超える製品展開が可能、また今まで2万種類以上の再生産実績があります。 さらに設計、ウェハ設計、組立、テスト、信頼性やIPアーカイブなど、製造サービス全般のターンキー・ソリューションを提供することにより、市場投入までの時間を短縮しています。 ロチェスターエレクトロニクスは、豊富な製品在庫、付加価値サービスそして製造ソリューションで、半導体製品の継続供給サービス及び製造をサポートするソリューション・プロバイダーです。 日本では、東京池袋にあるサンシャイン６０および大阪にある新大阪阪急ビルにオフィスを構え、日本の顧客へのサポートをしております。
