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XFS-B 3-1

最終更新日:2025年10月21日

ウェーブクレスト株式会社
ウェーブクレスト株式会社
  • 公式サイト

30 MHz〜6 GHz対応。高周波磁界測定の新定番

XFS-B 3-1磁界スキャナプローブの測定コイルは、プローブシャフトに対して直交して配置されています。 プローブヘッドを垂直に配置することで、測定コイルがプリント基板の表面に直接接触します。これにより、スイッチングコントローラの大型部品の間など、通常はアクセスが困難なプリント基板表面の箇所でも使用できます。 XFS-B 3-1は、測定対象物から90°の角度で放射される磁界線を検出するパッシブ近傍界プローブです。プローブの横方向から入射する磁界線は検出されません。 XFS-R 3-1磁界スキャナプローブとは異なり、コイルはプローブ先端に90°の角度で配置されています。 この近傍界プローブは小型で持ち運びやすく、電流減衰シースを備えているため電気的にシールドされています。50Ω入力のスペクトラムアナライザまたはオシロスコープに接続できます。磁界プローブには終端抵抗が内蔵されています。

    その他電子計測器EMC試験プローブ
スキャナプローブ_XFS-B

スキャナプローブ 30MHz ~ 6GHz

スキャナプローブ_XFS-B 3-1.png
スキャナプローブ_XFS-B 3-1.png

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基本情報

● 周波数範囲:30 MHz ~ 6 GHz ● 接続:50 Ω同軸(SMAコネクタ) ● 構造:90°配置のコイル構造(狭所測定に最適) ● 寸法:約 100 mm(長さ) × 直径 3 mm(先端部) ● 用途:EMC測定、ノイズ源特定、スイッチング電源周辺の磁界測定 ● 対応機器:スペクトラムアナライザ、オシロスコープ(50 Ω入力)

価格帯

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用途/実績例

● スイッチング電源周辺の磁界測定 → 大型部品の隙間など、アクセス困難な箇所の磁界分布を高精度に可視化。 ● プリント基板のEMC評価 → EMIノイズ源の特定や、対策部品の効果検証に活用。 ● シールド材・フィルタの効果確認 → 対策前後の磁界強度を比較し、EMC対策の有効性を評価。 ● スペクトラムアナライザとの連携測定 → 50Ω入力機器に直接接続し、リアルタイムで磁界強度を確認。 ● 研究開発・教育用途 → EMC教育や回路設計時のフィールド解析に使用。大学や技術研究所でも導入実績あり。 ● 電波暗室・シールドルームでの局所測定 → 高周波ノイズの発生源を特定するための補助測定ツールとして活用。

詳細情報

  • スキャナプローブ_XFS-B

    スキャナプローブ 30MHz ~ 6GHz (XFS-B 3-1)

  • スキャナプローブ_XFS-B

    スキャナプローブ 30MHz ~ 6GHz (XFS-B 3-1) 仕様

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スキャナプローブ 30MHz ~ 6GHz (XFS-B 3-1) データシート

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ウェーブクレスト株式会社

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EMC試験・汎用計測におけるユニークで新しいソリューションを提供する企業として、ウェーブクレスト株式会社は活動しています。高度化する電子・通信環境はその製品の性能ばかりでなく社会全体の安全性をも左右する社会インフラとして、高い安全性、信頼性が求められています。従来の試験方法や機器にとらわれずマーケットが必要とする新しい製品やソリューションを提供していきたいと考えます。

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