研究開発・品質管理に使える高感度な成分分析
TOF-SIMS分析（飛行時間型二次イオン質量分析法）は、試料表面の成分分析を行う手法です。 最表面に存在する有機物・無機物の同定に適しており、イメージング測定によって成分の面内分布を視覚的に把握することができます。 特に異物や変色・洗浄残渣など不良原因の特定に有効です。 さらに、掘りながら測定することで、深さ方向の分布も確認可能です。
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基本情報
測定法：TOF-SIMS 製品分野：生体、有機材料、金属・無機材料、電池 分析目的：汚染評価、異物評価
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納期
用途／実績例
半導体、電池、生体材料、有機材料など多様な分野の分析です。 詳しくは、お問い合わせください。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード![[MST]TOF-SIMS分析事例集](https://image.mono.ipros.com/public/catalog/image/387108/IPROS3512578580823682415.jpeg?w=120&h=170)
企業情報
MSTは受託分析サービスをご提供する財団法人です。 TEM・SIMS・XRDなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 知識豊富な営業担当が、適切な分析プランをご提案。貴社に伺ってのご相談も、もちろん可能です。 ISO9001・ISO27001取得。 製品開発・不良原因の解明・特許調査はぜひご相談ください！ MSTは、あなたの「困った！」を解決へと導きます。
