高精度なミラー式露点計で、半導体製造の清浄度管理をサポート。
半導体製造業界では、製品の品質を維持するために、製造環境の清浄度管理が重要です。特に、微細な粒子や水分の混入は、製品の歩留まりを低下させる大きな要因となります。MBW973鏡面冷却式露点計は、高精度な露点計測により、製造プロセスにおける水分管理を徹底し、製品の品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・半導体製造クリーンルーム ・ガス供給ライン ・乾燥空気供給システム 【導入の効果】 ・高精度な水分管理による歩留まり向上 ・製品品質の安定化 ・製造プロセスの最適化
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基本情報
【特長】 ・露点測定範囲:-60~ +20 ℃dp(機種により異なる) ・ORIS機能による高応答速度 ・ポンプ・流量計・圧力センサー内蔵(機種により異なる) ・デジタル/アナログ出力 ・-80度までの低露点領域に対応 【当社の強み】 国産露点計メーカーとして、お客様のニーズに合わせた最適なソリューションを提供します。露点計だけでなく、関連する計測器や装置も取り扱っており、トータルでのサポートが可能です。
価格帯
納期
用途/実績例
● 工業炉内の水分管理 ● 露点計・湿度計の基準器として ● ドライルーム内露点管理 他多岐にわたる
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国産静電容量式露点計TK-100シリーズをはじめ、ミラー式露点計、酸素濃度計、加湿装置、腐食性ガス中水分計という、水分管理に関わる様々な計測器・装置を紹介しております。これらを有機的に組み合わせ、また、配管、ライン作成、ユニット化により、オーダーメイドの製品をご提供し、複雑な問題点にも迅速に対応させて頂きます。






