SN比が良く高分解能で高感度な探傷を実現します。
■概要 探触子のコアデバイスである振動子にコンポジット振動子を使用した探触子。 従来型の探触子では粒界からのエコー（ノイズエコー）が大きい為、SN比が悪く超音波探傷が難しい材料が有ります。 コンポジットコア探触子を使用すればこういった材料の超音波探傷でノイズの低減が見られSN比の改善が期待できます。
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基本情報
遅延材付き探触子：BAN（シリーズ） 斜角探触子：UX、UM、UA、XA、MA、SA、ML、RW、FA、FLA（各シリーズ） 二振動子探触子：UD、MD、DM、DA、DL、DS（各シリーズ） 水浸探触子：MI、PI、BSI（各シリーズ）
価格帯
納期
用途／実績例
■用途 ・鋳物などの粒界反射が大きい材料の探傷。 ・焼き入れ材等の粒界反射が大きい材料の探傷。 ・エコーの分解と感度を求めたい探傷。 ・これまでよりS/Nの改善をしてよりきずを検出したい方に。
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企業情報
「超音波探触子の専門メーカー」である(株)検査技術研究所(KGK)は、皆様の安全管理を超音波探触子(プローブ)の製造を通して、サポートさせていただいてます。 ＫＧＫはモノづくり集団として皆様のご要望に沿うべく、標準探触子の他に特殊仕様探触子の製造も承ります。 探触子の検討・選定の為、試験片等（サンプル）の探傷性の確認実験も承っております。 超音波探触子(プローブ)に関する問題については、どうぞお気軽にＫＧＫにご相談下さい。
