0.01℃の高精度な温度分解能!熱特性評価を革新する、CXTIMで確かな熱伝導率測定を
サーデアウ株式会社は、パワー半導体や放熱材料の熱特性を精密に 評価する測定装置を提供しています。 主な製品は、JEDEC規格準拠の過渡熱測定器「CXST」と、ASTM規格 準拠の熱伝導率測定装置「CXTIM」です。 「CXST」は、MOSFETやIGBT等のデバイス内部の熱抵抗や熱容量を解析し、 構造関数を用いた熱構造解析が可能。一方、「CXTIM」は熱伝導グリスや シート等の材料を対象に、実使用環境に近い加圧状態での熱抵抗を測定できます。 【過渡熱測定器(CXST)の特長】 ■JEDEC規格に準拠し、パワー半導体内部の熱特性を可視化 ■最大1MHzの高速サンプリングと0.01℃の温度分解能 ■「構造関数」の解析能力 ■チップからパッケージ、基板に至る放熱経路上の熱抵抗と熱容量を グラフ化し、放熱のボトルネックを特定 ■Webベースの制御システムを採用し、遠隔監視や直感的な操作が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【熱伝導率測定装置(CXTIM)の特長】 ■ASTM D5470規格に準拠し、放熱グリスやシート(TIM)の熱性能を評価 ■厚みをμm単位で制御する「厚み制御モード」と、実装時の圧力を再現する 「加圧制御モード」のデュアルモードを搭載 ■液体、ゴム、金属、薄膜など多様なサンプルに対応材料の熱伝導率だけでなく、 界面接触熱抵抗の動的解析も実施 ■高精度な温度測定技術を応用し、EVバッテリーや5Gデバイスの熱設計に不可欠な データを提供 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途/実績例
【用途】 ■半導体デバイスの熱特性評価 ■熱伝導率の測定 ■構造関数に基づく熱解析 ■電子熱マネジメント分野での技術革新 ■TDA(Thermal Design Automation)ツールの開発 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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当社は、高精度な瞬態熱試験装置(CXST)および定常法熱伝導率 測定装置(CXTIM)などの関連製品を提供する企業です。 さらに、高品質な試験ソリューションのコンサルティングと 精度な試験サービスも提供可能。 成熟した技術チームを有し、機械設計、回路設計、組み込み制御、 システムソフトウェア設計、データ処理アルゴリズムなど、各分野で 独自の研究開発能力を備えています。

