リートベルト法で薄膜の粉末回折データを精密化
半導体薄膜の分野では、薄膜の構造解析が製品の品質と性能を左右する重要な要素です。CrystalMakerでシリコン、GaN、SiCなどの半導体薄膜の結晶構造を可視化し、CrystalDiffractで粉末・薄膜X線回折の理論パターンを生成して実測データと照合することで、結晶相同定・配向性・格子定数の評価が可能です。エピタキシャル成長の最適化やデバイス開発に活用できます。 【活用シーン】 ・薄膜の結晶構造解析 ・多層膜の構造評価 ・薄膜材料の組成分析 【導入の効果】 ・薄膜の構造に関する正確な情報が得られる ・デバイス設計の最適化 ・研究開発の効率化
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基本情報
【特長】 ・リートベルト法による粉末回折データの精密化機能 ・xyデータ形式またはRigaku ASCフォーマットの読み込み対応 ・CrystalDiffract収録のライブラリまたはCIFファイルの利用 ・複数の相からなる混合物の回折パターンの精密化 ・バックグラウンドの自動除去、相識別機能 サポート情報はヒューリンンクスのサイトへ https://www.hulinks.co.jp/software/crystaldiffract/support/
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用途／実績例
結晶構造の可視化・解析：原子配置、結合状態、多面体構造を3Dで直感的に表示し、構造の理解や論文・プレゼン用図版の作成に活用 新規材料の構造モデリング：スーパーセル生成や原子置換により、合金・ドープ材料・欠陥構造などの仮想モデルを構築 界面・表面構造の設計： 異種材料の界面や薄膜構造をモデル化し、接合・積層材料の研究に活用 第一原理計算の前処理・後処理： CASTEPなどのDFTコードへの入力構造作成や、計算結果の電子密度・構造変化の可視化に使用 CrystalMaker, SingleCrystal との連携による回折パターンのシミュレーション：X線・電子線・中性子回折のパターンを計算し、実験データとの比較・同定に利用
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企業情報
変化の激しい世界にあっても、創業以来ヒューリンクスの理念は変わりません。 人間のすばらしさは思考し、創造できること、そして新たな明日を切り拓いて 行けること。 人間の持つこの優れた能力 — 知的創造 — を支援する製品、また、より快適な 環境を提供すると共に生産性を向上させる、そんな選りすぐりのソリューション を提供する事により私達は社会に貢献したいと考えています。
