半導体の微細検査をサポートする、×38〜×2700対応レンズ
半導体製造における微細検査では、微細な欠陥や構造を正確に捉えるための高精細かつ高倍率な観察が求められます。特に、製造プロセスの各段階での品質管理や、歩留まり向上には、精密な検査が不可欠です。当社の高倍率レンズシステム『SS-Hシリーズ』は、こうした要求に応えるために開発されました。 【活用シーン】 ・ウェハー上の微細パターン検査 ・チップ実装状態の確認 ・異物混入の有無の確認 【導入の効果】 ・検査精度の向上 ・不良箇所の早期発見 ・品質管理の強化
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基本情報
【特長】 ■高精細な観察が可能 ■×38〜×2700まで対応する幅広い倍率レンジ ■用途に合わせて選べるレンズラインアップ ■真上からの高倍率観察に特化した専用スタンド ■Z軸電動制御ユニットとの連携が可能 【当社の強み】 IoT時代のものづくりをサポートする創業70年の商社として、工場の自動化・効率化を実現するデジタルツールの提案を行っております。展示会やウェビナーを通じて、品質DX、製造DXなど、お客様のニーズに合わせた情報発信を継続的に実施しております。京都本社をはじめ、国内5拠点、海外2拠点のネットワークでお客様をサポートいたします。
価格帯
納期
用途／実績例
【活用事例】 ■金属粒子の高倍率観察・結晶粒度計測 ■粒子の高倍率観察・粒度分布解析 ■表面処理や塗装の高倍率観察・塗膜計測 ■粉体・気泡・コンタミのカウント ■食品に混入した異物や毛髪の高倍率観察 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
IoT時代のものづくりをサポートする創業より70年の商社です。国内拠点は京都本社(京都市南区)、名古屋営業所(名古屋市名東区)、滋賀営業所(滋賀県栗東市）、明石出張所(兵庫県加古郡)、岡山営業所(岡山市北区)の5拠点及び海外にマレーシア、フィリピンの2拠点ございます。
