電子材料の測定事例を多数掲載。Wet系スラリーからDry系粉体まで、実サンプルの測定データに基づき材料特性の評価手法を提案
半導体、コンデンサ、磁性体、超伝導体などはカーボンニュートラル社会の 実現に重要な役割を担っており、これらの基となる材料の開発や品質管理お よびスラリーや粉体の粒子特性評価が重要です。 本資料集では、電子材料・半導体材料・セラミックスなどの研究開発・品質管理で 重要となる粒子径分布、分散・凝集状態、分散安定性、比表面積、細孔分布、 真密度、流動電位などを、実サンプルの測定事例を通じて分かりやすく紹介。 Wet系スラリーからDry系粉体まで、一連の材料評価を「MICROTRAC製品群」で 包括的に実施できることを提案したアプリケーション資料集です。 【資料の掲載内容（抜粋）】 ■電子材料の研究開発・品質管理に関する測定事例 ■微粒子の粒子径評価に関する測定手法 ■分散・凝集状態やスラリー安定性の評価事例 ■比表面積、細孔分布、真密度などの材料特性評価事例 ※アプリケーション資料は＜カタログをダウンロード＞よりご覧いただけます。
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【こんな方にオススメ】 ◎電子材料・半導体材料・セラミックスの研究開発や品質管理担当者 ◎大学・公的研究機関の研究者 ◎材料評価・キャラクタリゼーションに携わる技術者 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
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企業情報
マイクロトラック・ベル株式会社は、以下、3つの卓越したコア技術を保有しています。 1.ガス/蒸気吸着・比表面積・細孔分布・真密度・触媒評価 ガス吸着法により粉粒体(多孔性・無孔性材料)のガス/蒸気吸着量、BET比表面積、細孔分布、真密度、触媒を評価するBELSORP・BELPYCNO・BELCATシリーズと水銀圧入法にて粉粒体の細孔構造を評価するBELPOREシリーズをラインナップ 2.粒子径分布＆粒子形状評価 動的画像解析技術を用いたCAMSIZERシリーズは粒子個々の粒子径と形状を迅速に測定可能です。また、レーザ回折・散乱は、粒子の光散乱情報を元に粒子径分布を測定する技術でMICROTRACはこの原理を用いた装置のパイオニアです。 3.分散安定性評価 動的光散乱法(DLS)を用いた粒子径測定装置、流動電位法(SPM)により粒子界面の静電反発力を評価する装置、静的多重光散乱法(SMLS)により分散安定性を評価する装置をラインナップ これらの製品群は、世界中の研究開発や品質管理・品質保証の分野で使用されており、当社はワンストップソリューションプロバイダーとして日々前進しています。
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