切削技術で機械研磨より高精度な試料調整を実施します。
光学顕微鏡、電子顕微鏡での観察に用いる試料調整の一つであり、目的に応じたミクロトームでの試料調整を受託にて実施致します。試料調整方法は研磨法・切削法・FIB法などありますが、ミクロトームでは広範囲での対応が可能な切削法を用います。 ミクロトームによる切削試料調整は機械研磨と比べると精密に加工ができる反面、観察目的により様々な技術が必要になります。JTLでは豊富な経験・知識を基に、目的に合わせた最適な試料調整サービスをご提供致します。 LEICA製 EM-UC7 ●倍率：9.6～77倍 ●観察角度：5°～25° ●カット速度：0.05～100mm/s ●断面厚さ：0～15,000nm
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基本情報
複合材の平滑な試料調整が可能 硬さの異なる複合材の場合、機械研磨では段差が発生することが多々あります。ミクロトームによる切削方法では平滑に試料調整を行うことが可能です。 水・研磨材を使用しない試料調整 水や研磨材を使用することなく試料調整を行うことができる為、試料そのままの状態を保ったまま調整を行うことが可能です。 硬軟複合材試料もダレなく調整 超精密な切削による試料調整の為、従来困難だった硬軟複合材試料もダレなく調整可能です。
価格情報
- 観察・分析内容によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
納期
※観察・分析内容によって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
用途／実績例
・狙い位置のある試料調整 ・EBSD解析前の試料調整 ・銅線（はんだ）の断面出し ・界面の剥離状態確認
企業情報
開発品の信頼性を評価する技術サービスを主な業務としています。 規格・規定通りの評価データのご提供だけでなく、評価目的に最適な手法・条件・設備のご提案や、規格外評価のためのオリジナル設備・治具の設計製作にも対応しています。 また、計測・試験・分析の3つの評価技術を複合的に取り扱っていますので、多様な設備を横断する複合業務や、より多角的な評価方法のご提案も可能です。
